Комплексное оснащение медицинских учреждений,
государственных и научных лабораторий

Электронная и сканирующая зондовая микроскопия26 товаров

ГОСТы и методики

Атомно-силовой микроскоп MFP-3D-BIO™

Производитель: Asylum Research (an Oxford Instrument company)

Атомно-силовой микроскоп MFP-3D-BIO™ для исследования биологических объектов Атомно-силовой микроскоп MFP-3D-BIO обеспечивает высочайшую чувствительность, точное сканирование и измерения на базе инвертированной оптической платформы. Уникальная ..

Высокоскоростная система анализа минералов MLA 650\650F

Производитель: FEI

Система анализа минералов, применяемая в горнодобывающей промышленности с целью оптимизации производства. Основные преимущества: Автоматизированная система анализа минералов с использованием современных технологий SEM, EDS , а также с примен..

Высокотехнологичный сканирующий зондовый микроскоп Cypher ES™

Производитель: Asylum Research (an Oxford Instrument company)

Платформа Cypher™ является уникальным высокотехнологичным сканирующим зондовым микроскопом, совмещающим последние технологические достижения и многолетний опыт компании Asylum Research (an Oxford Instrument company) в зондовой мик..

Высокотехнологичный сканирующий зондовый микроскоп Cypher S™

Производитель: Asylum Research (an Oxford Instrument company)

Платформа Cypher™ является уникальным высокотехнологичным сканирующим зондовым микроскопом, совмещающим последние технологические достижения и многолетний опыт компании Asylum Research (an Oxford Instrument company) в зондовой мик..

Двулучевой микроскоп Helios

Производитель: FEI

Электронная колонна Elstar FESEM с интегрированным монохроматором (UC) обеспечивает суб-нанометровое разрешение в диапазоне от 1 до 30 кВ. Ионная колонна высокого разрешения Tomohawk оптимальна для исследования наноматериалов. Уникальность Helios ..

Двулучевой микроскоп Scios

Производитель: FEI

Электронная колонна NiCol с тремя внутрилинзовыми детекторами, высокопроизводительная ионная колонна, автоматическое послойное травление для 3D характеризации, подготовка образцов для TEM. Благодаря электронно-оптической колонне последнего поколен..

Криоэлектронный микроскоп Titan Krios

Производитель: FEI

Titan Krios основан предназначен для работы с биологическими образцами, протеинами, макромолекулами. В арсенале его методов 2D электронная кристаллография, двухнаклонная томография, томография на основе поиска и анализа изображения частицы в разных п..

Микроскоп MFP-3D Classic™

Производитель: Asylum Research (an Oxford Instrument company)

Микроскопы семейства MFP-3D, разработанные компанией Asylum Research (an Oxford Instrument company) на сегодняшний день являются наиболее гибкимии и производительными зондовыми микроскопами в своем классе. Они позволяют исследовать обр..

Микроскоп MFP-3D Infinity™

Производитель: Asylum Research (an Oxford Instrument company)

Микроскопы семейства MFP-3D, разработанные компанией Asylum Research (an Oxford Instrument company) на сегодняшний день являются наиболее гибкимии и производительными зондовыми микроскопами в своем классе. Они позволяют исследовать обр..

Микроскоп MFP-3D Origin™

Производитель: Asylum Research (an Oxford Instrument company)

Микроскопы семейства MFP-3D, разработанные компанией Asylum Research (an Oxford Instrument company) на сегодняшний день являются наиболее гибкимии и производительными зондовыми микроскопами в своем классе. Они позволяют исследовать обр..

Микроскоп Olympus DSX100

Производитель: Olympus

Микроскоп DSX100 дает новый способ видения. Теперь не нужно смотреть через окуляры, все, что нужно на экране. Управление микроскопом осуществляется с помощью сенсорной панели или мыши. Кроме того, практически любой пользователь с любым уров..

Модульный просвечивающий электронный микроскоп Talos L120C

Производитель: FEI

Модульный просвечивающий электронный микроскоп для задач биологии и медицины, обеспечивающий оптимальную производительность и стабильность. Система разработана чтобы быть максимально простой и понятной пользователю с любым уровнем подготовки. Лине..

Просвечивающий электронный микроскоп Talos F200X

Производитель: FEI

Высокое разрешение, высокая производительность, высокая чувствительность FEI Talos F200X сочетает в себе достоинства просвечивающего электронного микроскопа высокого разрешения с режимами STEM и TEM и уникального на сегодня по своим характеристика..

Просвечивающий электронный микроскоп Talos Arctica

Производитель: FEI

Высокопроизводительный 200 кВ S/TEM для многомерного анализа образцов С Talos Arctica Вам больше не надо быть гуру в области просвечивающей электронной микроскопии поскольку большинство действий и настроек в микроскопе выполняются удаленно и автом..

Просвечивающий электронный микроскоп Talos F200X/S

Производитель: FEI

Высокое разрешение, высокая производительность, высокая чувствительность FEI Talos F200X сочетает в себе достоинства просвечивающего электронного микроскопа высокого разрешения с режимами STEM и TEM и уникального на сегодня по своим характеристика..

Просвечивающий электронный микроскоп Titan Halo

Производитель: FEI

Наиболее универсальный 300 кВ провечивающий электронный микроскоп, оснащенный функциями криоэлектронной микроскопии, пригодный как для материаловедения, так и для биологических приложений. Отличное решение для оснащения мультидисциплинарной лаборатор..

Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis

Производитель: FEI

Titan Themis - гибкая и совершенная платформа, на базе которой строится объективно лучший просвечивающий электронный микроскоп, который выбирают ведущие научные группы по всему миру. Микроскоп использует все новейшие разработки FEI, включая сверх ярк..

Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп SPM-9700

Производитель: Shimadzu Corporation

Сканирующая зондовая микроскопия - метод исследования формы и локальных свойств поверхности твердого тела.  SPM-9700 позволяет проводить измерения методами атомно-силовой (AFM), магнитно-силовой (LFM), сканирующей туннельной микроскопии (STM), ..

Сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения SPM-8000FM

Производитель: Shimadzu Corporation

Впервые в сканирующем зондовом микроскопе используется атомно-силовой метод с частотной модуляцией, а не с амплитудной, как у большинства аналогичных приборов. Использование данного метода позволяет существенно уменьшить шумы (до 1/20 шумов приборов..

Сканирующий электронный микроскоп Apreo

Производитель: FEI

С Apreo вы можете получать высококонтрастные изображения в высоком разрешении даже при работе с магнетиками, стеклами или другими непроводящими структурами. В тоже время микроскоп показывает отличные результаты и при изучении традиционных образцов дл..

Сканирующий электронный микроскоп Verios

Производитель: FEI

Превосходная производительность VeriosТМ объясняется уникальным дизайном электронной колонны «Elstar FESEM». Монохроматор и модуль замедления пучка электронов позволяют показывать невероятные результаты на низких ускоряющих напряжениях, а новая ..

Универсальный сканирующий электронный микроскоп с вакуумным режимом «естественной среды» Quattro

Производитель: FEI

Thermo Scientific™ Quattro СЭМ сочетает в себе отличную производительность как для визуализации, так и для аналитических исследований в сочетании с уникальным режимом естественной среды (ESEM). Это отличное решение для изучения образцов в их естестве..

Электронно-зондовый микроанализатор EPMA-1720

Производитель: Shimadzu Corporation

Электронно-зондовые микроанализаторы – это устройства, предназначенные в первую очередь для высокоточного рентгеноспектрального анализа нано- и микрообъектов. В отличие от обычных растровых электронных микроскопов с аналитическими приставками, в элек..

Электронно-зондовый микроанализатор EPMA-8050G

Производитель: Shimadzu Corporation

Электронно-зондовый микроанализатор оборудован передовой электронной оптической системой с полевой эмиссией, обеспечивающей беспрецедентное пространственное разрешение СЭМ изображений даже при высоких токах зонда (до 1 мкА!!!). В сочетании с вы..

Электронный микроскоп V400ACE

Производитель: FEI

V400ACE™ разработан специально для для модификации схем и анализа отказов. Ионная колонна Tomahawk обеспечивает высокопроизводительную и точную обработку образца, а также дает изображения в высоком разрешении. В электронике встречаются только две ..

Электронный микроскоп Vion Plasma FIB

Производитель: FEI

Фокусированный ионный пучок с источником на основе зарядово-связанной палзмы Xe(+). Удаление материала до 20 раз быстрее по сравнению с традиционным Ga FIB. FEI Vion™ Plasma Focused Ion Beam System (PFIB) - фокусированный ионный пучок с источником..