Сканирующий электронный микроскоп Verios

  • Производитель: FEI
  • Модель:Verios

Превосходная производительность VeriosТМ объясняется уникальным дизайном электронной колонны «Elstar FESEM». Монохроматор и модуль замедления пучка электронов позволяют показывать невероятные результаты на низких ускоряющих напряжениях, а новая технология «Constant Power Lens», делает колонну микроскопа еще более стабильной. К уже ставшему традиционным для FEI кольцевому детектору вторичных и обратно рассеянных электронов (DBS) на линзе добавлены два новых детектора внутри колонны, позволяющие получать превосходные разрешение и контраст. Более того, улучшенный детектор STEM показывает невероятную производительность при исследовании ламелей методом просвечивающей микроскопии.

Преимущества Verios G4 XHR SEM

  • Новые высококонтрастные многосегментные твердотельные детекторы для BSE и STEM
  • Режим замедления электронного пучка для работы с деликатными биологическими образцами
  • Суб-нанометровое разрешение при низких ускоряющих напряжениях вплоть до 1 кВ
  • Встроенный быстрый электростатический бланкер: для нужд электронной литографии высокого разрешения и для обеспечения минимального повреждения чувствительных биологических образцов
  • Электростатическая система сканирования обеспечивает минимальные искажения и высокую скорость развертки пучка

Запрос информации