Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
-600x600.jpg "Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis")
Titan Themis - гибкая и совершенная платформа, на базе которой строится объективно лучший просвечивающий электронный микроскоп, который выбирают ведущие научные группы по всему миру. Микроскоп использует все новейшие разработки FEI, включая сверх яркий и стабильный катод X-FEG, энергодисперсионный спектрометр рентгеновского излучения SuperX EDS с четырьмя безоконными кремниевыми дрейфовыми детекторами SDD.
FEI X-FEG - полевой катод высокой яркости
В микроскопах Titan применен источник электронов с катодом термополевой эмиссии повышенной яркости FEI X-FEG. Параметры этого катода оптимизированы таким образом, что он дает ток пучка в пять раз выше чем у стандартного катода типа Шоттки Schottky. При этом стабильность пучка, апертура, срок службы у X-FEG такие же как и у стандартного катода Шоттки. Вы получаете заметное улучшение соотношения сигнал-шум и улучшенную производительность для STEM, TEM и EDS.
Электронно-оптическая колонна
Колонна Titan обладает высочайшей механической и температурной стабильностью благодаря применению электромагнитных линз постоянной мощности и модульной структуре. Колонна микроскопа Titan Themis может быть оснащена сразу двумя корректорами сферической аберрации (Cs-корректор). Для STEM режима используется верхний Cs-корректор (корректор зонда), для TEM изображения - нижний корректор. Кроме того для достижения суб-ангстремного разрешения колонна оборудована монохроматором. Все эти технические решения позволяют достичь рекордного разрешения в 70 пикометров. В микроскопе Titan Themis применяется симметричная объективная линза S-TWIN с большим зазором между полюсными наконечниками, позволяющая проводить томографию и сложные динамические эксперименты.
Аналитические возможности
Аналитические возможности Titan Themis поистине безграничны. Для анализа элементного состава Вам доступны такие методики как спектроскопия характеристических потерь энергии электронов (EELS) и энергодисперсионная спектроскопия характеристического рентгеновского излучения (EDS) с применением уникального EDS спектрометра FEI SuperX. Обе методики позволяют проводить анализ с атомным разрешением. Полностью автоматизированная томография образца от записи наклонных серий до реконструкции и визуализации. Микроскоп позволяет применять все существующие методики анализа дифракции электронов, включая дифракцию в сходящемся пучке (CBED) и дифракцию в прецессирующем пучке. Для анализа механических напряжений микроскоп может быть укомплектован системой электронной голографии с применением бипризмы. Для исследования магнитных наноструктур и доменов доступны методики дифференциального фазового контраста (DPC). Кроме того, микроскоп Titan Themis прекрасно подготовлен для проведения динамических in situ экспериментов, для чего существует целый ряд специальных держателей образца.
FEI SuperX - EDS спектрометр нового поколения
Полностью разработанный FEI спектрометр SuperX создан, чтобы дополнять просвечивающие электронные микроскопы FEI и максимально оптимизирован под особенности конструкции объективных линз и держателей. В детекторе SuperX применена инновационная технология безоконного кремниевого дрейфового детектора, позволяющая значительно повысить чувствительность к легким элементам. Для защиты от обледенения и от загрязнений детектор оснащен защитной шторкой и крик-ловушкой. Для обеспечения максимального телесного угла сбора спектрометр SuperX включает сразу 4 таких детектора, расположенных с четырех сторон относительно образца. Вам больше не нужно наклонять образец в сторону детектора, чтобы получить оптимальную чувствительность. Кроме того, SuperX позволяет проводить 3D анализ элементарного состава, используется при томографии.
| Разрешение в режиме STEM без STEM Cs-корректора |
0,136 нм |
| Разрешение в режиме STEM с STEM Cs-корректором |
0,070 нм |
| Информационный предел TEM без использования Cs-корректора изображения |
< 0,100 нм |
| Информационный предел TEM c использованием Cs-корректора изображения |
0,080 нм |
| Информационный предел TEM c использованием Cs-корректора изображения и монохроматора |
0,070 нм |
* Все характеристики указаны для ускоряющего напряжения 300 кВ