Titan Themis - гибкая и совершенная платформа, на базе которой строится объективно лучший просвечивающий электронный микроскоп, который выбирают ведущие научные группы по всему миру. Микроскоп использует все новейшие разработки FEI, включая сверх яркий и стабильный катод X-FEG, энергодисперсионный спектрометр рентгеновского излучения SuperX EDS с четырьмя безоконными кремниевыми дрейфовыми детекторами SDD.
FEI X-FEG - полевой катод высокой яркости
В микроскопах Titan применен источник электронов с катодом термополевой эмиссии повышенной яркости FEI X-FEG. Параметры этого катода оптимизированы таким образом, что он дает ток пучка в пять раз выше чем у стандартного катода типа Шоттки Schottky. При этом стабильность пучка, апертура, срок службы у X-FEG такие же как и у стандартного катода Шоттки. Вы получаете заметное улучшение соотношения сигнал-шум и улучшенную производительность для STEM, TEM и EDS.
Электронно-оптическая колонна
Колонна Titan обладает высочайшей механической и температурной стабильностью благодаря применению электромагнитных линз постоянной мощности и модульной структуре. Колонна микроскопа Titan Themis может быть оснащена сразу двумя корректорами сферической аберрации (Cs-корректор). Для STEM режима используется верхний Cs-корректор (корректор зонда), для TEM изображения - нижний корректор. Кроме того для достижения суб-ангстремного разрешения колонна оборудована монохроматором. Все эти технические решения позволяют достичь рекордного разрешения в 70 пикометров. В микроскопе Titan Themis применяется симметричная объективная линза S-TWIN с большим зазором между полюсными наконечниками, позволяющая проводить томографию и сложные динамические эксперименты.
Аналитические возможности
Аналитические возможности Titan Themis поистине безграничны. Для анализа элементного состава Вам доступны такие методики как спектроскопия характеристических потерь энергии электронов (EELS) и энергодисперсионная спектроскопия характеристического рентгеновского излучения (EDS) с применением уникального EDS спектрометра FEI SuperX. Обе методики позволяют проводить анализ с атомным разрешением. Полностью автоматизированная томография образца от записи наклонных серий до реконструкции и визуализации. Микроскоп позволяет применять все существующие методики анализа дифракции электронов, включая дифракцию в сходящемся пучке (CBED) и дифракцию в прецессирующем пучке. Для анализа механических напряжений микроскоп может быть укомплектован системой электронной голографии с применением бипризмы. Для исследования магнитных наноструктур и доменов доступны методики дифференциального фазового контраста (DPC). Кроме того, микроскоп Titan Themis прекрасно подготовлен для проведения динамических in situ экспериментов, для чего существует целый ряд специальных держателей образца.
FEI SuperX - EDS спектрометр нового поколения
Полностью разработанный FEI спектрометр SuperX создан, чтобы дополнять просвечивающие электронные микроскопы FEI и максимально оптимизирован под особенности конструкции объективных линз и держателей. В детекторе SuperX применена инновационная технология безоконного кремниевого дрейфового детектора, позволяющая значительно повысить чувствительность к легким элементам. Для защиты от обледенения и от загрязнений детектор оснащен защитной шторкой и крик-ловушкой. Для обеспечения максимального телесного угла сбора спектрометр SuperX включает сразу 4 таких детектора, расположенных с четырех сторон относительно образца. Вам больше не нужно наклонять образец в сторону детектора, чтобы получить оптимальную чувствительность. Кроме того, SuperX позволяет проводить 3D анализ элементарного состава, используется при томографии.
| Разрешение в режиме STEM без STEM Cs-корректора |
0,136 нм |
| Разрешение в режиме STEM с STEM Cs-корректором |
0,070 нм |
| Информационный предел TEM без использования Cs-корректора изображения |
< 0,100 нм |
| Информационный предел TEM c использованием Cs-корректора изображения |
0,080 нм |
| Информационный предел TEM c использованием Cs-корректора изображения и монохроматора |
0,070 нм |
* Все характеристики указаны для ускоряющего напряжения 300 кВ
| Экспертное оснащение лабораторий: оборудование, закупка и сопровождение | ||||
| Профессиональная команда по оснащению лабораторий. Индивидуальный подбор под задачу, сопровождение закупки в частном и государственном секторе по ценам производителя, комплексное обслуживание после поставки. | ||||
| Опыт в цифрах | ||||
|
| ||||
|
|
Вопросы и ответы
Получите экспертную
консультацию
Оставьте заявку, мы свяжемся с вами и проконсультируем по интересующим темам