Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
Микроскоп MFP-3D Classic™
- Производитель: Asylum Research (an Oxford Instrument company)
- Модель:MFP-3D Classic™
Микроскопы семейства MFP-3D, разработанные компанией Asylum Research (an Oxford Instrument company) на сегодняшний день являются наиболее гибкимии и производительными зондовыми микроскопами в своем классе. Они позволяют исследовать образцы большого размера и предоставляют широчайший набор методик и опций для работы с твердотельными образцами, полимерами и биологическими объектами, как на воздухе, так и в жидкости. Микроскопы MFP-3D обеспечат высочайшую точность и результативность Ваших исследований.
Методики СЗМ микроскопа MFP-3D Classic
Стандартные:
- контактный режим (contact mode);
- метод латеральных сил (LFM);
- режим прерывистого контакта (tapping, AC mode), включая цифровой контроль добротности колебаний кантилевера;
- Dual AC™. Технология основана на мультичастотном возбуждении кантилевера и поддерживает гармонические двухчастотные методики сканирования для получения топографии и механических свойств поверхности;
- электро-силовая микроскопия (EFM);
- метод зонда кельвина (KPFM);
- магнитно-силовая микроскопия (MFM);
- микроскопия пьезо-отклика (PFM);
- силовые измерения (Force curves) в контактном и полуконтактном режиме;
- MicroAngelo - нанолитография и наноманипулирование;
- сканирование в жидкости;
Опциональные режимы:
- микроскопия проводимости (CAFM). Модуль ORCA™ обеспечивает низкотоковые измерения (~1пA – 10мкA) при постоянном поданном напряжении;
- AM-FM Viscoelastic Mapping Mode – исследование механических свойств поверхности, количественное определение модулей упругости и потерь;
- сканирующая туннельная микроскопия (STM);
- сканирующая тепловая микроскопия (SThM);
- приложение внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии;
- определение температуры плавления локальной области образца (Ztherm);
- сканирующая микроволновая микроскопия импеданса (sMIM). Позволяет получать информацию о емкости, проводимости, степени и типе легирования полупроводника, а также dC/dV, dR/dV характеристики с пространственным разрешением менее 50 нм;
- высоковольтная микроскопия пьезо-отклика (PFM), подача до ±220 В на зонд. Исследование пробоя диэлектриков;
- наноиндентирование.
Технические особенности MFP-3D Classic
MFP-3D Classic разработан компанией Asylum Research (an Oxford Instrument company) как высокочувствительный и прецизионный инструмент, с полным набором программного обеспечения для реализации различных методик. Уникальные технологии, внедренные в атомно-силовом микроскопе MFP-3D Classic подняли планку исследовательских задач, повысив функциональность, возможности атомно-силовой микроскопии. Микроскоп удовлетворяет требованиям как специалистов в области сканирующей зондовой микроскопии, так и поможет быстро и эффективно приступить к исследованиям начинающим пользователям.
Инновации, внедренные в MFP-3D Classic:
Прибор состоит из базы, которая включает XY сканнер и головной части, включающей Z сканнер и зонд микроскопа.
Дизайн и конструкция MFP-3D Classic обладают гибкими и многофункциональными возможностями, широким спектром доступных системных опций и приставок для исследования в различных средах и областей применения для увеличения функциональности прибора.
Головная часть микроскопа.
Головная часть микроскопа включает Z пьезо-сканнер, держатель зонда и систему регистрации отклонения кантилевера, реализованную с использованием низкокогерентного суперлюминесцентного диода (SLD), что позволяет избежать артефактов, связанных с интерференцией оптического сигнала.
Система нанопозиционирования NPS™ обеспечивает сверхточное измерение положения основания кантилевера для проведения суб-пиконьтоновых силовых измерений и получения топографии поверхности с атомным разрешением.
Основные характеристики Z сканнера:
- Диапазон перемещения: 15 (40*) мкм (в режиме замкнутой обратной связи);
- Высота образцов: до 10 (27*) мм
- Уровень шума датчиков: не более 0,25 нм (в режиме замкнутой обратной связи) (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 КГц); нелинейность: не более 0,05% на полном скане (в режиме замкнутой обратной связи);
- Уровень шума сканнера: не более 60 пм (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 КГц)
Имеется возможность подачи до ±220 В на зонд микроскопа*.
XY сканнер
Система NPS обеспечивает точное увеличение в заданной области образца одним кликом мыши
XY сканнер MFP-3D по точности позиционирования и воспроизводимости превосходит любые другие трубчатые сканеры.
В микроскопе MFP-3D установлен изгибный сканер и запатентованная система позиционирования NPS™, которая контролирует движение по координатам XY с высочайшей точностью. Система учитывает эффекты релаксирования пьезокерамики (гистерезис и крип), обеспечивая высокое качество сканирования и возможность точного увеличения и смещения одним кликом мыши.
Основные характеристики XY сканнера:
- Размер образцов: до 8,6х3,8 см, что позволяет использовать стандартные предметные и покровные стекла;
- Область сканирования: 90 мкм (в режиме замкнутой обратной связи);
- Уровень шума: не более 0,5 нм (в режиме замкнутой обратной связи) (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 КГц);
- Нелинейность: не более 0,5% на полном скане (в режиме замкнутой обратной связи).
База микроскопа MFP-3D
В микроскопе MFP-3D реализовано три конфигурации для оптического наблюдения за образцом:
- Вид сверху (разрешение 3 мкм);
- Вид снизу* (для прозрачных образцов), увеличение в 10 раз/0,25 NA;
- Совмещение видов* сверху и снизу для полного контроля над образцом.
Контроллер ARC2™
Полностью цифровой контроллер и адаптируемое программное обеспечение позволяет осуществлять работу и контроль за всей системой через программный интерфейс IGOR Pro. Открытый код доступа пользователя к программной среде.
- 100% цифровое управления обеспечивает низкий уровень шумов, быструю работу и высокую функциональность;
- Программируемые логические интегральные схемы (FPGA) и Цифровой сигнальный процессор.
Акустическая и виброизоляция, контроль температуры
В стандартную комплектацию прибора входит система виброизоляции и акустический кожух, что позволяет проводить высокоточные измерения даже в шумной среде, а также стабилизировать температуру.
- Пассивное (> 1000 Гц) и активное (0,7 - 1000 Гц) виброгашение.
- Акустическое экранирование обеспечивает изоляцию до 20дБ;
- Температурный контроль* обеспечивает стабилизацию температуры с точностью до 0,1°C, что на порядок уменьшает тепловой дрейф.
Микроскопы семейства MFP-3D могут комплектоваться широким набором дополнительных модулей, для различных исследовательских задач. Большинство из них совместимы со всеми микроскопами семейства MFP-3D, за исключением MFP-3D Origin. Ниже представлены некоторые из доступных опций.
Ячейки и держатели для образцов с контролируемой средой делают возможным проводить АСМ исследования образцов при контролируемой температуре (-30 – 400°С) и влажности. Специально для биологических задач разработаны ячейки для работы в жидкой среде с возможностью обмена жидкости и контролем температуры, а также держатель для чашек Петри. Электрохимическая ячейка позволяет исследовать процессы окисления или осаждения материалов in situ. Специальные ячейки работают под управлением контроллера среды (Environmental Controller).
iDrive
Держатель для реализации магнитного возбуждения кантилевера iDrive. Колебания кантилевера в магнитном поле вызываются силой Лоренца под действием проходящего через него слабого тока, что обеспечивает чистый резонанс и стабильное сканирование в жидкости, особенно мягких образцов.
Variable Field Module 2
VFM 2 - модуль для приложения к образцу внешнего постоянного магнитного поля величиной до ± 0,8 Тл (8000 Гс). Реализован с применением постоянных магнитов, благодаря чему образце не нагревается.
Держатель для деформации образцов NanoRack
Держатель для деформации образцов позволяет прикладывать к образцу усилия до 80 Н на разрыв непосредственно в процессе сканирования. Применяется для исследования механических свойств материалов (в частности, полимеров).
Зондовая станция
Позволяет осуществлять электрический контакт с образцом во время сканирования, прикладывать внешнее напряжение смещения на образец.
Удлинитель для головной части микроскопа
Увеличивает зазор между сканнером и зондом, что делает возможным исследование толстых образцов до 27 мм толщиной.