Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп SPM-9700
- Производитель: Shimadzu Corporation
- Модель:SPM-9700
Сканирующая зондовая микроскопия - метод исследования формы и локальных свойств поверхности твердого тела.
SPM-9700 позволяет проводить измерения методами атомно-силовой (AFM), магнитно-силовой (LFM), сканирующей туннельной микроскопии (STM), а также Кельвин-микроскопии (KFM).
Графический интерфейс в среде Windows обеспечивает полное управление прибором, анализ и документирование результатов.
C помощью SPM-9700 можно:
Получать трехмерное изображение рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз.
Измерять значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра:
- механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность);
- электрических (потенциал, проводимость);
- магнитных (распределение намагниченности).
Широкое разнообразие функций 3D изображения при использовании операций с мышью принадлежности.
Использование мыши для изменения масштаба и свободного вращения изображений или изменения увеличения по оси Z. Это позволяет представлять полученные данные различными способами, подтверждая эти данные в режиме реального времени.
Увеличение масштаба изображения
Функция текстуры
Информация о высоте может быть наложена на информацию о физических свойствах. Это позволяет ясно показать соотношения между двумя параметрами.
В 3D изображениях можно анализировать профили сечения. Если информация о физических свойствах выражена в терминах текстуры, соответствующие профили сечения могут быть показаны и проанализированы в том же месте.
Программное обеспечение для исследования частиц (опция)
Программное обеспечение для исследования частиц выделяет множество частиц из изображения, полученного с помощью SPM-9700, и рассчитывает характерные значения для каждой частицы, затем анализирует и показывает результаты. Это особенно подходит для статистической обработки данных. Цифровые данные можно экспортировать.
Сканирующий зондовый микроскоп с контролем окружающей среды. Серия WET-SPM
При добавлении климатической камеры сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700 можно превратить в систему серии WET-SPM. Это возможно только для SPM-9700, который оптимизирован для операций в климатической камере благодаря включению таких характеристик, как запатентованный Шимадзу механизм скольжения головки, выполнение операций с передней стороны, открытый дизайн головки и полная автоматизация. Это особенно подходит для образцов, разлагающихся на воздухе и во влажной атмосфере.
Климатические камеры CH-II / CH-III
Климатические камеры, CH-II (без турбо-молекулярного насоса) и CH-III (с турбомоле-кулярным насосом) были разработаны специально для SPM-9700 как камеры со встроенным демпфером вибраций. Так как камера позволяет контролировать образец и окружающую среду, SPM можно использовать для непосредственного наблюдения образцов, обрабатываемых в контролируемой среде. Большой обзорный порт и два порта для перчаток позволяют обрабатывать образцы внутри камеры. Добавленные опции для in-situ SPM позволяет исследования в реальном времени поверхностных изменений, обусловленных изменениями физических параметров – температуры, влажности, давления, люминесценции, концентрации. Блок SPM можно легко поместить в камеру и выгрузить из нее с тыла, что позволяет использовать его для наблюдений в обычной атмосфере и в контролируемой среде.
Контроллер температуры и влажности
Контроллер подсоединен к климатической камере для контроля температуры и влажности.
Блок подачи газа
Блок подачи газа подсоединен к запасному порту для подачи небольших количеств газа к образцу.
Блок нагрева и охлаждения образца
Образец, помещенный в SPM, можно нагревать или охлаждать. Блок может функционировать в атмосферных условиях, в зависимости от образца.
Блок излучение света
Блок пригоден для использования оптоволоконного источника для освещения поверхности образца. Может функционировать в атмосферных условиях.
Применение: Материаловедение, полупроводниковая промышленность, биология, медицина, физические и химические исследования.
|
Разрешение |
горизонтальное 0,2 нм; вертикальное 0,01 нм |
|
Диапазоны сканирования |
стандартный: 30мкм х 30мкм х 5мкм; опционные: 125 мкм х 125мкм х 7 мкм; 55 мкм х 55мкм х 13 мкм; 2.5 мкм х 2.5мкм х 0.3 мкм |
|
Размеры образца |
до 24 мм (диам.)х8 мм |