Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
-600x600.jpg "Высокоскоростная система анализа минералов MLA 650\650F")
Система анализа минералов, применяемая в горнодобывающей промышленности с целью оптимизации производства.
Основные преимущества:
- Автоматизированная система анализа минералов с использованием современных технологий SEM, EDS , а также с применением технологий для поиска свободных частиц
- Лучшая система классификации минералов с усовершенствованными возможностями
- Технологии управления процессом концентрирования
- Автоматизированное сообщение матричных данных
- Двойные детекторы EDS с высокой производительностью
- Лидирующие позиции на рынке микроскопов эмиссионных SEM
Автоматизированная система анализа минералов включает в себя:
- Сканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом (FEG)
- Кремниевые дрейфовые (SDD) энергодисперсионные рентгеновские детекторы
- Программное обеспечение для проведения анализа и поиска свободных частиц минералов (MLA) предусматривающее сбор, анализа и вывода данных
- Держатель для 14ти 30-миллиметровых образцов
Технические приложения
Характеристика руды
– оценка месторождений
– характеристика геометаллургических свойств руды
– обнаружение наночастиц драгоценных металлов
Расчет & оптимизация параметров переработки руды
– проведение анализа как малых производств, так и в
больших объемах
– определение размера частиц помола
Извлечение металлов
– определение оптимальных потоков (на концентратор)
– обеспечение эффективного смешивания руды
– избегание металлургически бедных минеральных ресурсов
Вспомогательные программы для проведения анализа минералов
Поиск полезных ископаемых
Основные металлы
– Медная руда
– Никелевая руда
– Железная руда
– Другие руды (свинец, цинк, марганец)
Драгоценные металлы
– Металлы платиновой группы
– Урановая руда
– Золотая руда
– Другие руды, такие как серебро, титан
Минералы, используемые в промышленности
Частицы тяжелых минералов
Другие отрасли горнодобывающей промышленности
Дополнительные характеристики минералов, такие как:
– минералогический состав бурового керна и минералы-
индикаторы (нефть и газ)
– минералогический состав угольной золы (уголь)
– загрязненные почвы ( обработка отходов)
– минералогический состав зольной пыли (цемент)
Возможности анализа минералов
(полностью автоматизированный процесс)
- Классификация минералов
- Концентрация минералов
- Расположение элементов
- Структура минералов
- Минеральные ассоциации
- Свободные частицы минералов
MLA 650F представляет собой сканирующий электронный микроскоп, оборудованный источником излучения на основе полевой эмиссии (FEG) и нескольких высокоскоростных энергодисперсионных рентгено-флуоресцентных датчиков (EDX) для получения изображений и информации о составе большого количества образцов - в основном, полированных шлифов, полученных при переработке минералов, из буровых кернов или же осадочных материалов. Специализированное программное обеспечение для анализа минералов использует данные для получения и оценки таких характеристик, как вид минерала, состав, распределение элементов, размер зёрен, наличие свободных частиц и агломератов. Способность системы MLA 650F сокращать сроки выполнения операций от дней до часов появилась благодаря модернизации технического и программного обеспечения. Одним из основных преимуществ модернизации является более быстрое воспроизведение изображений в более высоком качестве. Этот эффект достигнут благодаря использованию электронного источника с повышенной яркостью, высокоскоростной системы получения данных, а также выборке наилучших образцов, скоростной автоматизации и усовершенствованному аналитическому дизайну.
Автоматизированный сбор данных, анализ и презентация:
Комплект программного обеспечения MLA
ПО для сбора данных
– управление сбором данных SEM и EDS
– создание базы данных образцов
Программа обработки данных
– инструменты для обработки и классификации изображений
– управление базой данных минералов
Программа вывода данных (DataView)
– просмотр данных в табличной или графической форме
– сравнение, комбинирование и фильтрация блоков данных
– поиск и группирование схожих минералов
– поиск зерен минералов (модальный анализ )и анализ распределения элементов по образцу (количественный анализ)
– распределение частиц и зёрен по размеру
– минеральные ассоциации, частицы и инклюзии
– расчетные кривые качества сырья
– плотность и форма частиц
Режим измерения
BSE – изображение
X-BSE – изображение + РФС
GXMAP – изображение + РФС карты (метод Форда)
SPL – поиск свободных частиц фазы
XMOD – рентгеновский модальный состав
RPS – поиск фазовых включений
SX-BSE (метод Лэтти)
STD – автоматизированное составление базы данных стандартов
Двухкратное увеличение (метод Шустера)
Двойная выдержка (метод Меллера)
Линейное сканирование
Опции:
- Специальные держатели образцов - держатели для любого размера и любой формы, например, для тонких сечений
- MLA сертификация и обучение - рекомендуется к использованию начинающими пользователями MLA
- контракт на обслуживание и поддержку
- Выбор обучения (SEM и EDS)
Спецификации сканирующего электронного микроскопа:
Электронная оптика
Сверхяркий, сверхстабильный источник полевой эмиссии Шоттки
Средняя стабильность пучка: < 0.4 % / 10 часов
быстрое восстановление устойчивости пучка после откачки – в среднем <15 минут
Детекторы
BSED, двухсегментный полупроводниковый
SED, Everhart Thornley & низковакуумный SED (LFD) Инфракрасная камера
Вакуум
Режим работы при высоком вакууме
Режим работы при низком вакууме (от 10 до 130 Па)
Режим работы в естественной среде (от 1 до 4000 Па), ESEM
1 x 240 л/с турбомолекулярный насос, 2 форвакуумных
насоса
Разрешение
1.2 нм @ 30 кВ (SE)
2.5 нм @ 30 кВ (BSE)
Ускоряющее напряжение 200 В-30 кВ
Зондовый ток до 100 µA, плавно регулируемый
Камера
Ширина 379 мм
Рабочее расстояние 10 мм
35˚ угол наблюдения РФС
Снабжена многочисленными детекторами EBSD, EDS и WDS
Предметный столик
X-Y = 150 мм
Z = 65 мм
T = – 5˚ до + 70˚
R = 360˚, бесступенчатый
Управление системой
32-битный графический интерфейс Windows® 7, клавиатура, оптическая мышь
Вывод изображений на два 19-дюймовых ЖК дисплея,
SVGA 1280 x 1024
EDS:
Тип детектора
Кремниевые дрейфовые детекторы (SDD)
10 мм² активной зоны с возможностью установки нескольких детекторов
энергетическое разрешение: 133 эВ
Ультрабыстрое преобразование импульсов без использования жидкого азота
Возможно картографирование элементов и количественный анализ спектров