Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
-600x600.jpg "Просвечивающий электронный микроскоп Talos F200X")
Высокое разрешение, высокая производительность, высокая чувствительность
FEI Talos F200X сочетает в себе достоинства просвечивающего электронного микроскопа высокого разрешения с режимами STEM и TEM и уникального на сегодня по своим характеристикам энергодисперсионного спектрометрометра характерестического рентгеновского излучения (EDS) FEI SuperX. Микроскоп позволяет проводить трехмерную характеризацию образца, включая определние элементного состава и картирование распределения элементов. Управляющее программное обеспечение FEI Velox значительно повышает качество изображений при работе в STEM режиме за счет функции Smart Scanning, включающей в себя автоматическую компенсацию дрейфа и параллельный многоканальный сбор сигналов от разных детекторов и от разных сегментов одного детектора. Аналитический режим дифференциального фазового контраста (Differential Phase Contrast, DPC) для темнопольного детектора STEM позволяет визуализировать магнитные структуры.
FEI X-FEG - полевой катод высокой яркости
В Talos F200X применен источник электронов с катодом термополевой эмиссии повышенной яркости FEI X-FEG. Параметры этого катода оптимизированы таким образом, что он дает ток пучка в пять раз выше чем у стандартного катода типа Шоттки Schottky. При этом стабильность пучка, апертура, срок службы у X-FEG такие же как и у стандартного катода Шрттки. Вы получаете заметное улучшение соотношения сигнал-шум и улучшенную производительность для STEM, TEM и EDS.
FEI SuperX - EDS спектрометр нового поколения
Полностью разработанный FEI спектрометр SuperX создан, чтобы дополнять просвечивающие электронные микроскопы FEI и максимально оптимизирован под особенности конструкции объективных линз и держателей. В детекторе SuperX применена инновационная технология безоконного кремниевого дрейфового детектора, позволяющая значительно повысить чувствительность к легким элементам. Для защиты от обледенения и от загрязнений детектор оснащен защитной шторкой и крик-ловушкой. Для обеспечения максимального телесного угла сбора спектрометр SuperX включает сразу 4 таких детектора, расположенных с четырех сторон относительно образца. Вам больше не нужно наклонять образец в сторону детектора, чтобы получить оптимальную чувствительность. Кроме того, SuperX позволяет проводить 3D анализ элементарного состава, используется при томографии.
Talos F200X обладает рядом преимуществ за счет использования новейших технологий FEI в области просвечивающей электронной микроскопии:
- Аналитическая объективная линза A-TWIN постоянной мощности для высочайшей стабильности.
- Поддержка многопользовательской работы с сохранением и быстрым восстановлением независимых для каждого пользователя настроек работы микроскопа.
- Полностью удаленная работа за счет использования камеры с большим динамическим диапазоном Ceta. Фокусировка, юстировка оптики, работа с дифракцией - Все выполняется без использования традиционного фосфорного экрана в условиях нормальной освещенности в помещении.
- Уникальная безоконная конструкция кремниевых дрейфовых детекторов рентгеновского излучения обеспечивает высокую скорость анализа и чувствительность при анализе легких элементов.
- EDS спектрометр FEI SuperX: четыре детектора для максимальной чувствительности под любым углом. 3D томография с восстановлением элементного состава.
- Сверхяркий катод FEI X-FEG: ток пучка в пять раз выше стандартного катода Шоттки
| A-TWIN | |
|---|---|
| Разрешение в режиме STEM, детектор HAADF | 0,16 нм |
| Информационный предел TEM | 0,12 нм |
| Диапазон увеличений | STEM: 150x - 230Mx TEM: 25x - 1,5Mx* |
| Диапазон длин камеры | 12 - 5700 мм |
| Максимальный угол дифракции | 24 ̊ |
| Максимальный угол наклона при использовании двухнаклонного держателя | ± 30 ̊ |
| Максимальный угол наклона гониометра | ± 90 ̊ |
| Энергодисперсионный спектрометр (EDS) | с четырьмя кремниевыми дрейфовыми детекторам безоконного типа |
| Телесный угол EDS | 0,9 стерадиан |
* опция