Высокое разрешение, высокая производительность, высокая чувствительность
FEI Talos F200X сочетает в себе достоинства просвечивающего электронного микроскопа высокого разрешения с режимами STEM и TEM и уникального на сегодня по своим характеристикам энергодисперсионного спектрометрометра характерестического рентгеновского излучения (EDS) FEI SuperX. Микроскоп позволяет проводить трехмерную характеризацию образца, включая определние элементного состава и картирование распределения элементов. Управляющее программное обеспечение FEI Velox значительно повышает качество изображений при работе в STEM режиме за счет функции Smart Scanning, включающей в себя автоматическую компенсацию дрейфа и параллельный многоканальный сбор сигналов от разных детекторов и от разных сегментов одного детектора. Аналитический режим дифференциального фазового контраста (Differential Phase Contrast, DPC) для темнопольного детектора STEM позволяет визуализировать магнитные структуры.
FEI X-FEG - полевой катод высокой яркости
В Talos F200X применен источник электронов с катодом термополевой эмиссии повышенной яркости FEI X-FEG. Параметры этого катода оптимизированы таким образом, что он дает ток пучка в пять раз выше чем у стандартного катода типа Шоттки Schottky. При этом стабильность пучка, апертура, срок службы у X-FEG такие же как и у стандартного катода Шрттки. Вы получаете заметное улучшение соотношения сигнал-шум и улучшенную производительность для STEM, TEM и EDS.
FEI SuperX - EDS спектрометр нового поколения
Полностью разработанный FEI спектрометр SuperX создан, чтобы дополнять просвечивающие электронные микроскопы FEI и максимально оптимизирован под особенности конструкции объективных линз и держателей. В детекторе SuperX применена инновационная технология безоконного кремниевого дрейфового детектора, позволяющая значительно повысить чувствительность к легким элементам. Для защиты от обледенения и от загрязнений детектор оснащен защитной шторкой и крик-ловушкой. Для обеспечения максимального телесного угла сбора спектрометр SuperX включает сразу 4 таких детектора, расположенных с четырех сторон относительно образца. Вам больше не нужно наклонять образец в сторону детектора, чтобы получить оптимальную чувствительность. Кроме того, SuperX позволяет проводить 3D анализ элементарного состава, используется при томографии.
Talos F200X обладает рядом преимуществ за счет использования новейших технологий FEI в области просвечивающей электронной микроскопии:
- Аналитическая объективная линза A-TWIN постоянной мощности для высочайшей стабильности.
- Поддержка многопользовательской работы с сохранением и быстрым восстановлением независимых для каждого пользователя настроек работы микроскопа.
- Полностью удаленная работа за счет использования камеры с большим динамическим диапазоном Ceta. Фокусировка, юстировка оптики, работа с дифракцией - Все выполняется без использования традиционного фосфорного экрана в условиях нормальной освещенности в помещении.
- Уникальная безоконная конструкция кремниевых дрейфовых детекторов рентгеновского излучения обеспечивает высокую скорость анализа и чувствительность при анализе легких элементов.
- EDS спектрометр FEI SuperX: четыре детектора для максимальной чувствительности под любым углом. 3D томография с восстановлением элементного состава.
- Сверхяркий катод FEI X-FEG: ток пучка в пять раз выше стандартного катода Шоттки
| A-TWIN | |
|---|---|
| Разрешение в режиме STEM, детектор HAADF | 0,16 нм |
| Информационный предел TEM | 0,12 нм |
| Диапазон увеличений | STEM: 150x - 230Mx TEM: 25x - 1,5Mx* |
| Диапазон длин камеры | 12 - 5700 мм |
| Максимальный угол дифракции | 24 ̊ |
| Максимальный угол наклона при использовании двухнаклонного держателя | ± 30 ̊ |
| Максимальный угол наклона гониометра | ± 90 ̊ |
| Энергодисперсионный спектрометр (EDS) | с четырьмя кремниевыми дрейфовыми детекторам безоконного типа |
| Телесный угол EDS | 0,9 стерадиан |
* опция
| Экспертное оснащение лабораторий: оборудование, закупка и сопровождение | ||||
| Профессиональная команда по оснащению лабораторий. Индивидуальный подбор под задачу, сопровождение закупки в частном и государственном секторе по ценам производителя, комплексное обслуживание после поставки. | ||||
| Опыт в цифрах | ||||
|
| ||||
|
|
Вопросы и ответы
Получите экспертную
консультацию
Оставьте заявку, мы свяжемся с вами и проконсультируем по интересующим темам