Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
Высокотехнологичный сканирующий зондовый микроскоп Cypher ES™
- Производитель: Asylum Research (an Oxford Instrument company)
- Модель:Cypher ES™
Платформа Cypher™ является уникальным высокотехнологичным сканирующим зондовым микроскопом, совмещающим последние технологические достижения и многолетний опыт компании Asylum Research (an Oxford Instrument company) в зондовой микроскопии. Непревзойденная стабильность и предельно возможное разрешение в сочетании с высокой производительностью и возможностями новых запатентованных методик АСМ, позволят Вам совершить рывок в своих исследованиях. Полная поддержка и техническое обслуживание продуктов Cypher™ со стороны специалистов Asylum Research на всем протяжении работы, консультации со специалистами по всем вопросам позволят Вам достичь лучших результатов.
Прибор производится в двух модификациях:
- модель Cypher S™ – АСМ и СЗМ высокого разрешения для небольших образцов.
- модель Cypher ES™ – расширение возможностей микроскопа Cypher S™, эксперименты в жидкости и газовой атмосфере, контроль среды и температуры.
Методики СЗМ микроскопа Cypher™
Стандартные:
- контактный режим (contact mode)
- метод латеральных сил (LFM)
- режим прерывистого контакта (tapping, AC mode), включая цифровой контроль добротности колебаний кантилевера
- частотно-модулированная микроскопия (FM-AFM)
- Dual AC™. Технология основана на мультичастотном возбуждении кантилевера и поддерживает гармонические двухчастотные методики сканирования для получения топографии и механических свойств поверхности
- электро-силовая микроскопия (EFM)
- метод зонда кельвина (KPFM)
- магнитно-силовая микроскопия (MFM)
- микроскопия пьезо-отклика (PFM)
- силовые измерения (Force curves) в контактном и полуконтактном режиме
- нанолитография
- сканирование в жидкости
Опциональные режимы:
- микроскопия проводимости (CAFM). Модуль ORCA™ обеспечивает низкотоковые измерения (~1пA – 10мкA) при постоянном поданном напряжении
- туннельная микроскопия (STM)
- AM-FM микроскопия для исследования вязкоупругих свойств образцов
- режим широкополосного возбуждение кантилевера (Band Excitation) для исследование механических и пьезоэлектрических свойств материала
Технические особенности Cypher ES
Cypher ES™ (Environmental Scanner) расширяет возможности микроскопа Cypher S™ и позволяет проводить эксперименты в жидкостях, газовой фазе при контролируемых условиях и температуре:
- Введение и обмен газов/жидкостей в герметичной ячейке
- Возможность работы с микрокаплей (< 20 мкл)
- Интегрированный контроль температуры
- Химическая стабильность ячейки (совместима с органическими растворителями, кислотами, щелочами).
Модульная конструкция
Герметичная ячейка состоит из:
- Держателя кантилевера
- Тела ячейки,
- Держателя образца
Модульная конструкция ячейки обеспечивает максимальную гибкость в эксперименте.
Обмен газа/жидкости в герметичной ячейке:
- Несколько портов для продувки/промывки газа/жидкости
- Ячейка выдерживает давление до 34,5 кПа
- Обмен жидкости может производиться в капле малого объема (до 20 мкл) для уменьшения расхода образца и загрязнения ячейки
- Обмен жидкости может осуществляться самотеком (за счет силы тяжести), что не требует наличия насоса
Интегрированный температурный контроль:
- Модульная система держателей образцов, позволяющих производить контроль температуры в различных диапазонах
- Дополнительных электронных устройств и/или охлаждающих рециркуляторов не требуется
Широкая химическая совместимость:
- Обеспечение химической совместимости даже в самых суровых условиях, ячейка изготовлена из инертных материалов: Кварцевое стекло, Фторкаучук (FFKM), Полиэфирэфиркетон (PEEK)
- Ячейка рассчитана на применение органических растворителей, кислот, щелочей, буферов, инертных газов.
Спецификация
Сканнер:
- Диапазон сканирования: 30 мкм по XY, 5 мкм по Z
- Уровень шумов индукционных датчиков: менее 50 пм по Z и 60 пм по XY (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 КГц)
- Сканирование в режиме замкнутой обратной связи позволяет получать атомарное разрешение и разрешать точечные дефекты(на скане размером менее 10 нм) с величиной усиления сигнала обратной связи эквивалентной сканированию широкой области (> 1 мкм).
- Уровень шума при разомкнутой цепи обратной связи: XY < 8 пм,Z < 4 пм (вариация Аллана на полосе 1Гц – 10 КГц)
- XY дрейф: < 20/200 нм на °С (с/без модуля контроля температуры)
- Движение вне плоскости: < 3 нм на диапазоне сканирования с замкнутой цепью обратной связи
- Размер образцов: до 15/6 мм (диаметр/толщина)
Модификации держателя кантилевера:
Для газовой среды:
- Только газовая среда
- Возможен электрический контакт с кантилевером
- Совместим с методикой проводящей АСМ (C-AFM)
- Материал: кварцевое стекло, фторкаучук (FFKM) и нержавеющая сталь.
Для жидкости:
- Только жидкостная среда
- Два отверстия для смены жидкости
- Возможен электрический контакт с кантилевером
- Совместим с методикой проводящей АСМ (C-AFM) (с нержавеющим зажимом)
- Материал: кварцевое стекло, фторкаучук (FFKM) и полиэфирэфиркетон (PEEK) или нержавеющая сталь.
Для подачи высокого напряжения на зонд:
- Только газовая среда
- Изолированный высоковольтный контакт с кантилевером
- Не совместим с методикой проводящей АСМ (C-AFM)
- Материал: кварцевое стекло, фторкаучук (FFKM) и нержавеющая сталь.
Для туннельной микроскопии:
- Газовая либо жидкостная среда
- Два отверстия для смены жидкости/газа
- Материал: кварцевое стекло, фторкаучук (FFKM), нержавеющая сталь и эпоксидная смола.
Модификации тела ячейки:
Для газовой среды:
- Среда: газ или капля жидкости
- Два отверстия для смены газовой среды
- Три электрических коннектора для контакта с образцом (необходимы для методикой проводящей АСМ (C-AFM))
- Материал: кварцевое стекло, никель, эпоксидная смола.
Для жидкости:
- Газовая или жидкостная среда
- Два отверстия для смены газовой среды
- Не совместима с методикой проводящей АСМ (C-AFM)
- Материал: кварцевое стекло.
Модификации держателя образца:
Нагрев:
- Только газовая среда
- Диапазон: от комнатной температуры до 250° С
- Материал: фторкаучук (FFKM), керамика.
Нагрев-охлаждение:
- Газовая или жидкостная среда
- Диапазон: от 0 до 120° С
- Материал: фторкаучук (FFKM), анодированный алюминий.
Температура окружающей среды:
- Газовая или жидкостная среда
- Только температура окружающей среды
- Материал: фторкаучук (FFKM), нержавеющая сталь.
Боковые отверстия в корпусе:
- Несколько проходных отверстий для соединения с газовыми/жидкостными линиями
- Несколько портов для шприцов
- Регулируемая стойка для подачи жидкости самотеком
- Измеритель скорости потока для газа (опционально)