ION TOF

Масс-спектрометрическая система ToF SIMS 5

Производитель: ION TOF

TOF SIMS-5 предоставляет детальную информацию об элементном и молекулярном составе поверхности и приповерхностных слоях образца. Время-пролетная вторичная ионная масс-спектрометрия представляет собой методику исследования поверхностей с чрезвычайн..