Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
Настольный энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр для анализа драгоценных металлов
|
Характеристики |
X-PMA |
|
Возможности анализа |
|
|
Диапазон определения |
Na(11) – Fm(100) |
|
Определяемые концентрации |
ppm - 100% |
|
Генерация рентгеновского излучения |
|
|
Рентгеновская трубка |
Mo анод |
|
Источник излучения |
50кВ, 50Вт |
|
Способ возбуждения |
Прямое возбуждение с программно-заменяемыми фильтрами |
|
Размер фокусного пятна |
Микрообласть - Ø 1 мм |
|
Стабильность |
Точность 0.1% при температуре окружающей среды |
|
Детектирование рентгеновского излучения |
|
|
Детектор |
Pin-Diode с термоэлектрическим охлаждением |
|
Разрешение (FWHM), при 5.9 kэВ |
155 эВ ± 10 эВ |
|
Окно детектора |
Be |
|
Основные особенности системы |
|
|
Рабочая среда |
Воздух/Гелий |
|
Фильтры |
6 (с возможностью установки необходимых фильтров) |
|
Источник электропитания |
110-230В 50/60Гц |
|
Обработка сигнала |
Высокоскоростной цифровой мультиканальный анализатор |
|
Габариты системы (L x W x H, cм) |
Без упаковки: 55 x 55 x 32, С упаковкой: 80 x 80 x 65 |
|
Вес |
50кг (net), 90кг (gross) |
|
Размер камеры |
22 x 22cм, H=5cм |
|
Компьютер |
Встроенный ПК |
|
Программное обеспечение |
|
|
Системное программное обеспечение |
Програмное обеспечение nEXt™ , под управлением ОС Microsoft Windows™ + базовый бесстандартный режим фундаментальных параметров |
|
Управление |
Автоматический контроль возбуждения, обнаружения и обработка сигнала |
|
Обработка спектров |
Автоматическое удаление пика утечки и фона. Автоматическая деконволюция пиков. Графической обработки статистических данных |
|
Алгоритмы количественного анализа |
Мультиэлементная регрессия с межэлементной коррекцией (6 моделей) Различные методы вычисления площади пика : gross, net, fit и digital filter |
|
Формирование отчета |
Настраиваемый пользователем вывод данных на принтер |
|
Дополнительные опции |
Програмное расширение для анализа методом фундаментальных параметров. Укрепленный корпус. Оптимизированный для анализа легких элементов детектор. |