Настольный энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр для анализа драгоценных металлов
|
Характеристики |
X-PMA |
|
Возможности анализа |
|
|
Диапазон определения |
Na(11) – Fm(100) |
|
Определяемые концентрации |
ppm - 100% |
|
Генерация рентгеновского излучения |
|
|
Рентгеновская трубка |
Mo анод |
|
Источник излучения |
50кВ, 50Вт |
|
Способ возбуждения |
Прямое возбуждение с программно-заменяемыми фильтрами |
|
Размер фокусного пятна |
Микрообласть - Ø 1 мм |
|
Стабильность |
Точность 0.1% при температуре окружающей среды |
|
Детектирование рентгеновского излучения |
|
|
Детектор |
Pin-Diode с термоэлектрическим охлаждением |
|
Разрешение (FWHM), при 5.9 kэВ |
155 эВ ± 10 эВ |
|
Окно детектора |
Be |
|
Основные особенности системы |
|
|
Рабочая среда |
Воздух/Гелий |
|
Фильтры |
6 (с возможностью установки необходимых фильтров) |
|
Источник электропитания |
110-230В 50/60Гц |
|
Обработка сигнала |
Высокоскоростной цифровой мультиканальный анализатор |
|
Габариты системы (L x W x H, cм) |
Без упаковки: 55 x 55 x 32, С упаковкой: 80 x 80 x 65 |
|
Вес |
50кг (net), 90кг (gross) |
|
Размер камеры |
22 x 22cм, H=5cм |
|
Компьютер |
Встроенный ПК |
|
Программное обеспечение |
|
|
Системное программное обеспечение |
Програмное обеспечение nEXt™ , под управлением ОС Microsoft Windows™ + базовый бесстандартный режим фундаментальных параметров |
|
Управление |
Автоматический контроль возбуждения, обнаружения и обработка сигнала |
|
Обработка спектров |
Автоматическое удаление пика утечки и фона. Автоматическая деконволюция пиков. Графической обработки статистических данных |
|
Алгоритмы количественного анализа |
Мультиэлементная регрессия с межэлементной коррекцией (6 моделей) Различные методы вычисления площади пика : gross, net, fit и digital filter |
|
Формирование отчета |
Настраиваемый пользователем вывод данных на принтер |
|
Дополнительные опции |
Програмное расширение для анализа методом фундаментальных параметров. Укрепленный корпус. Оптимизированный для анализа легких элементов детектор. |