X
Returning Customer
I am a returning customer
X
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
VeOS производства OBLF (Германия) – универсальный, быстрый, мультиматричный стационарный оптико-эмиссионный спектрометр для анализа всех существующих металлов и сплавов.
- Первый в мире ОЕ-спектрометр на полупроводниковых линейных детекторах, не уступающий по аналитическим возможностям приборам на ФЭУ.
- VeOS – это наилучшая комбинация спектральной чувствительности и спектрального разрешения при максимальной гибкости для решения аналитических задач. В данном приборе впервые применены фотосенсоры с превосходными характеристиками во всем диапазоне длин волн – от 130 до 780 нм. Светочувствительная поверхность детекторов в 100 раз больше, чем в других аналогичных системах, поскольку конструкция детекторов специально разработана OBLF для оптико-эмиссионной спектроскопии.
- Точность определения содержания большинства элементов от 0,001%. А для бора и кальция на уровне 0,0001 % (Fe-матрица).
- Оптическая система и электроника помещены в вакуумную камеру из алюминиевого сплава и термостабилизированны, что обеспечивает надежное и стабильное измерение в течение длительного времени.
- Управляемый микропроцессором, полупроводниковый строб-импульсный генератор (GDS) позволяет гибко регулировать параметры тока возбуждения и проводить точный анализ как следовых компонентов (на уровне ppm), так и высоких содержаний (5-40%) легирующих элементов в сплавах. Оптимальные параметры возбуждения выбираются для конкртеной аналитической задачи.
- Техническое обслуживание системы минимально благодаря открытой конструкции и самоочищающемуся искровому штативу. Сама конструкция штатива такова, что позволяет получать оптимальный световой поток для элементов, возбужденных в различных областях плазмы, что крайне важно для определения следовых концентраций.
- Надежная конструкция для работы в жестких производственных условиях.
- Данная модель достаточно компактна и проста в обслуживании.
- Программноео обеспечение - это стандартный пакет OBLF Win для операционной среды MS Windows.
- Область применения прибора VeOS – от промышленных лабораторий металлургических предприятий, включая производителей чистых металлов, до научно-исследовательских центров.
Характеристики оптико-эмиссионного спектрометра VeOS, OBLF
| Регистрация сигнала | ПЗС |
| Оптическая схема Пашена-Рунге | 500 мм |
| Количество аналитических каналов, теор. | макс. 30000 |
| Количество аналитических каналов, практич. | макс. 200 |
| Диапазон длин волн | 120 - 780 нм |
| Частота искрового разряда | 1 - 1000 Гц |
| Разрешение дифракционной решетки | 2600 лин/мм |
| Обратная дисперсия для 1-го порядка | 0,78 и 4 нм/мм |
| Расход аргона на один прожиг в Fe-матрице | макс. 2,4 л |
| Расход аргона во время ожидания | капиллярный |
| Габаритные размеры прибора | 1150 х 740 х 1340 мм |
| Вес нетто | 300 кг |