VeOS производства OBLF (Германия) – универсальный, быстрый, мультиматричный стационарный оптико-эмиссионный спектрометр для анализа всех существующих металлов и сплавов.
- Первый в мире ОЕ-спектрометр на полупроводниковых линейных детекторах, не уступающий по аналитическим возможностям приборам на ФЭУ.
- VeOS – это наилучшая комбинация спектральной чувствительности и спектрального разрешения при максимальной гибкости для решения аналитических задач. В данном приборе впервые применены фотосенсоры с превосходными характеристиками во всем диапазоне длин волн – от 130 до 780 нм. Светочувствительная поверхность детекторов в 100 раз больше, чем в других аналогичных системах, поскольку конструкция детекторов специально разработана OBLF для оптико-эмиссионной спектроскопии.
- Точность определения содержания большинства элементов от 0,001%. А для бора и кальция на уровне 0,0001 % (Fe-матрица).
- Оптическая система и электроника помещены в вакуумную камеру из алюминиевого сплава и термостабилизированны, что обеспечивает надежное и стабильное измерение в течение длительного времени.
- Управляемый микропроцессором, полупроводниковый строб-импульсный генератор (GDS) позволяет гибко регулировать параметры тока возбуждения и проводить точный анализ как следовых компонентов (на уровне ppm), так и высоких содержаний (5-40%) легирующих элементов в сплавах. Оптимальные параметры возбуждения выбираются для конкртеной аналитической задачи.
- Техническое обслуживание системы минимально благодаря открытой конструкции и самоочищающемуся искровому штативу. Сама конструкция штатива такова, что позволяет получать оптимальный световой поток для элементов, возбужденных в различных областях плазмы, что крайне важно для определения следовых концентраций.
- Надежная конструкция для работы в жестких производственных условиях.
- Данная модель достаточно компактна и проста в обслуживании.
- Программноео обеспечение - это стандартный пакет OBLF Win для операционной среды MS Windows.
- Область применения прибора VeOS – от промышленных лабораторий металлургических предприятий, включая производителей чистых металлов, до научно-исследовательских центров.
Характеристики оптико-эмиссионного спектрометра VeOS, OBLF
| Регистрация сигнала | ПЗС |
| Оптическая схема Пашена-Рунге | 500 мм |
| Количество аналитических каналов, теор. | макс. 30000 |
| Количество аналитических каналов, практич. | макс. 200 |
| Диапазон длин волн | 120 - 780 нм |
| Частота искрового разряда | 1 - 1000 Гц |
| Разрешение дифракционной решетки | 2600 лин/мм |
| Обратная дисперсия для 1-го порядка | 0,78 и 4 нм/мм |
| Расход аргона на один прожиг в Fe-матрице | макс. 2,4 л |
| Расход аргона во время ожидания | капиллярный |
| Габаритные размеры прибора | 1150 х 740 х 1340 мм |
| Вес нетто | 300 кг |