NFS-220/320 Наноспектрометр с дополнительной оптикой возбуждения

Компания Jasco в своих сканирующих оптических наноспектрометрах ближнего поля  предоставила возможность преодолеть дифракционный предел и изучать нанообъекты.

Помимо получения топологических карт поверхности образца с пространственным разрешением, не достижимым обычным микроскопам, точный контроль расстояния между наконечником зонда и поверхностью образца обеспечивает оптимальную подсветку для оптических приложений в области нанотехнологий.

В сканирующем оптическом микроскопе ближнего поля источник излучения с пространственным разрешением меньшим, чем длина волны, используется в качестве сканирующего зонда. Зонд сканирует поверхность образца на высоте в несколько нанометров, пьезоэлектрический манипулятор поддерживает зазор между зондом и поверхностью с помощью системы обратной связи между датчиком и блоком электроники. На выходе конуса зонда имеется небольшое отверстие, оптоволоконный световод покрыт золотом. Облучая образец с помощью источника "ближнего поля", создаваемого диафрагмой зонда, можно получать оптические изображения с пространственным разрешением от 50 нм, преодолевая "дифракционный предел".

 

Программный модуль "Image Manager":
Модуль управления изображением позволяет получить трехмерную картину высокого разрешения, включая и топологию поверхности образца.
При отображении интенсивности и площали сигналов пиков/распределения, а также значения полуширины, программный модуль позволяет получить удивительно реалистичные 3D изображения.

 

 

 

Кроме того, становится возможным эффективно извлекать необходимую информацию с помощью различных функций обработки изображений и инструментов анализа больших объемов экспериментальных данных.

Серия NFS-220/320 включает в себя 2 модели:

 

 

 

NFS-220 - сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля для проведения экспериментов при комнатной температуре.

 

NFS-320 - сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля с криостатом для проведения низкотемпературных экспериментов. Поток газообразного гелия обеспечивает охлаждение образца до 10K и ниже.

 

Особенности:
•    Контролируемая подсветка образцов с использованием зонда ближнего поля позволяет достичь пространственного разрешения в несколько сотен нм или меньше.
•    Топологическое картирование образца из практически любого материала: органического, неорганического, металла, биополимера и т.д.
•    Параллельный вывод луча света, сфокусированного зондом ближнего поля.
•    Встроенный лазерный источник излучения.
•    Через окно для внешнего лазера возможен ввод дополнительного лазера возбуждения.
•    Системы NFS-220T и -320T поставляются в настольном исполнении.
•    Системы NFS-220V и -320V монтируются на столе с виброизоляцией.

 

 

Режимы измерения

Излучение-накопление, накопление, излучение (передача)

Встроенный лазер

Стандартно: 532 нм

Дополнительно: 632,8 нм

Внешний лазер

Возможно два источника возбуждения (включая встроенный)

Пространственное разрешение

Диаметр диафрагмы зонда ближнего поля 1000 - 50 нм, или менее

Предметный столик

50 х 50 мкм (комнатная температура) 

10 х 10 мкм (низкая температура)

Высота

15 мкм (комнатная температура)

4 мкм (низкая температура)

Управление

ПК с ОС Windows

Связь с ПК

16-разрядный АЦП

Получение изображений

Система видеозахвата

Программное обеспечение

Модуль обратной связи сигнала и картирования ближнего поля
Модуль отображения в режиме 3D
Модуль для наблюдения за зондом
Модуль анализа изображения
Модуль анализа спектральных данных

Охлаждение исследуемого образца

Криостат (NFS-320)

Доступ к зонду

2 окна (спереди и справа)

Размер главного блока

710 х 680 х 550 мм (Ш х Г х В) (NFS-220)

710 х 680 х 750 мм (Ш х Г х В) (NFS-320)

Блок питания

335 х 450 х 140 мм (Ш х Г х В)

Вес

Основной блок: 70 кг, контроллер: 15 кг 

Виброизоляционный стол: 280 кг

Электропитание

220 В переменного тока ± 10%, 250 ВА (исключая потребление ПК и лазера)

Другие требования

Азот или воздух для виброизоляционного стола, от 0,3 до 0,8 МПа

Запрос информации