Компания Jasco в своих сканирующих оптических наноспектрометрах ближнего поля предоставила возможность преодолеть дифракционный предел и изучать нанообъекты.
В данной системе не установлены источники возбуждения или детекторы, несмотря на это можно создавать различные экспериментальные установки, используя окна на передней и правой стенках прибора. Более того, прямой доступ к вводу оптического волокна в ближнепольный зонд обеспечивает большую гибкость при проведении экспериментов с использованием системы микроскопии ближнего поля.
Расположение образца контролируется с высочайшей точностью, поэтому наконечник зонда остается на фиксированном расстоянии от поверхности образца, что обеспечивает точные топологические данные о рельефе поверхности образца. Облучая образец с помощью источника "ближнего поля", создаваемого диафрагмой зонда, можно получать оптические изображения с пространственным разрешением от 50 нм, преодолевая "дифракционный предел".
Программный модуль "Image Manager":
Модуль управления изображением позволяет получить трехмерную картину высокого разрешения, включая и топологию поверхности образца.
При отображении интенсивности и площали сигналов пиков/распределения, а также значения полуширины, программный модуль позволяет получить удивительно реалистичные 3D изображения.
Кроме того, становится возможным эффективно извлекать необходимую информацию с помощью различных функций обработки изображений и инструментов анализа больших объемов экспериментальных данных.
Серия NFS-210/310 включает в себя 2 модели:
NFS-210 - сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля для проведения экспериментов при комнатной температуре.
NFS-310 - сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля с криостатом для проведения низкотемпературных экспериментов. Поток газообразного гелия обеспечивает охлаждение образца до 10K и ниже.
Особенности:
• Встроенный микроскоп ближнего поля с высокой механической стабильностью.
• Подсветка образца и доступ для измерения с двух сторон (спереди и справа).
• Прямой доступ к оптическому волокну зонда.
• Топологическое картирование образца из практически любого материала: органического, неорганического, металла, биополимера и т.д.
• Компактная конструкция с системой виброизоляции.
|
Пространственное разрешение |
Диаметр диафрагмы зонда ближнего поля 1000 - 50 нм, или менее |
|
Предметный столик |
50 х 50 мкм (комнатная температура) |
|
Высота |
15 мкм (комнатная температура) |
|
Управление |
ПК с ОС Windows |
|
Связь с ПК |
16-разрядный АЦП |
|
Получение изображений |
Система видеозахвата |
|
Программное обеспечение |
Модуль обратной связи сигнала и картирования ближнего поля |
|
Охлаждение исследуемого образца |
криостат (NFS-310) |
|
Доступ к зонду |
2 окна (спереди и справа) |
|
Размер главного блока |
340 х 520 х 550 мм (Ш х Г х В) (NFS-210) |
|
Блок питания |
335 х 450 х 140 мм (Ш х Г х В) |
|
Вес |
Основной блок: 45 кг |
|
Электропитание |
220 В переменного тока ± 10%, 250 ВА (исключая потребление ПК и лазера) |
| Экспертное оснащение лабораторий: оборудование, закупка и сопровождение | ||||
| Профессиональная команда по оснащению лабораторий. Индивидуальный подбор под задачу, сопровождение закупки в частном и государственном секторе по ценам производителя, комплексное обслуживание после поставки. | ||||
| Опыт в цифрах | ||||
|
| ||||
|
|
Вопросы и ответы
Получите экспертную
консультацию
Оставьте заявку, мы свяжемся с вами и проконсультируем по интересующим темам