ION TOF
Масс-спектрометрическая система ToF SIMS 5
Производитель: ION TOF
TOF SIMS-5 предоставляет детальную информацию об элементном и молекулярном составе поверхности и приповерхностных слоях образца. Время-пролетная вторичная ионная масс-спектрометрия представляет собой методику исследования поверхностей с чрезвычайн..