![](https://assa-group.ru/image/catalog/AjaxLoader.gif)
Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
- Все производители
-
Asylum Research (an Oxford Instrument company)
-
FEI
-
Olympus
-
Shimadzu Corporation
Электронная и сканирующая зондовая микроскопия26 товаров
ГОСТы и методикиАтомно-силовой микроскоп MFP-3D-BIO™
Атомно-силовой микроскоп MFP-3D-BIO™ для исследования биологических объектов Атомно-силовой микроскоп MFP-3D-BIO обеспечивает высочайшую чувствительность, точное сканирование и измерения на базе инвертированной оптической платформы. Уникальная ..
Высокоскоростная система анализа минералов MLA 650\650F
Система анализа минералов, применяемая в горнодобывающей промышленности с целью оптимизации производства. Основные преимущества: Автоматизированная система анализа минералов с использованием современных технологий SEM, EDS , а также с примен..
Высокотехнологичный сканирующий зондовый микроскоп Cypher ES™
Платформа Cypher™ является уникальным высокотехнологичным сканирующим зондовым микроскопом, совмещающим последние технологические достижения и многолетний опыт компании Asylum Research (an Oxford Instrument company) в зондовой мик..
Высокотехнологичный сканирующий зондовый микроскоп Cypher S™
Платформа Cypher™ является уникальным высокотехнологичным сканирующим зондовым микроскопом, совмещающим последние технологические достижения и многолетний опыт компании Asylum Research (an Oxford Instrument company) в зондовой мик..
Двулучевой микроскоп Helios
Электронная колонна Elstar FESEM с интегрированным монохроматором (UC) обеспечивает суб-нанометровое разрешение в диапазоне от 1 до 30 кВ. Ионная колонна высокого разрешения Tomohawk оптимальна для исследования наноматериалов. Уникальность Helios ..
Двулучевой микроскоп Scios
Электронная колонна NiCol с тремя внутрилинзовыми детекторами, высокопроизводительная ионная колонна, автоматическое послойное травление для 3D характеризации, подготовка образцов для TEM. Благодаря электронно-оптической колонне последнего поколен..
Криоэлектронный микроскоп Titan Krios
Titan Krios основан предназначен для работы с биологическими образцами, протеинами, макромолекулами. В арсенале его методов 2D электронная кристаллография, двухнаклонная томография, томография на основе поиска и анализа изображения частицы в разных п..
Микроскоп MFP-3D Classic™
Микроскопы семейства MFP-3D, разработанные компанией Asylum Research (an Oxford Instrument company) на сегодняшний день являются наиболее гибкимии и производительными зондовыми микроскопами в своем классе. Они позволяют исследовать обр..
Микроскоп MFP-3D Infinity™
Микроскопы семейства MFP-3D, разработанные компанией Asylum Research (an Oxford Instrument company) на сегодняшний день являются наиболее гибкимии и производительными зондовыми микроскопами в своем классе. Они позволяют исследовать обр..
Микроскоп MFP-3D Origin™
Микроскопы семейства MFP-3D, разработанные компанией Asylum Research (an Oxford Instrument company) на сегодняшний день являются наиболее гибкимии и производительными зондовыми микроскопами в своем классе. Они позволяют исследовать обр..
Микроскоп Olympus DSX100
Микроскоп DSX100 дает новый способ видения. Теперь не нужно смотреть через окуляры, все, что нужно на экране. Управление микроскопом осуществляется с помощью сенсорной панели или мыши. Кроме того, практически любой пользователь с любым уров..
Модульный просвечивающий электронный микроскоп Talos L120C
Модульный просвечивающий электронный микроскоп для задач биологии и медицины, обеспечивающий оптимальную производительность и стабильность. Система разработана чтобы быть максимально простой и понятной пользователю с любым уровнем подготовки. Лине..
Просвечивающий электронный микроскоп Talos F200X
Высокое разрешение, высокая производительность, высокая чувствительность FEI Talos F200X сочетает в себе достоинства просвечивающего электронного микроскопа высокого разрешения с режимами STEM и TEM и уникального на сегодня по своим характеристика..
Просвечивающий электронный микроскоп Talos Arctica
Высокопроизводительный 200 кВ S/TEM для многомерного анализа образцов С Talos Arctica Вам больше не надо быть гуру в области просвечивающей электронной микроскопии поскольку большинство действий и настроек в микроскопе выполняются удаленно и автом..
Просвечивающий электронный микроскоп Talos F200X/S
Высокое разрешение, высокая производительность, высокая чувствительность FEI Talos F200X сочетает в себе достоинства просвечивающего электронного микроскопа высокого разрешения с режимами STEM и TEM и уникального на сегодня по своим характеристика..
Просвечивающий электронный микроскоп Titan Halo
Наиболее универсальный 300 кВ провечивающий электронный микроскоп, оснащенный функциями криоэлектронной микроскопии, пригодный как для материаловедения, так и для биологических приложений. Отличное решение для оснащения мультидисциплинарной лаборатор..
Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis
Titan Themis - гибкая и совершенная платформа, на базе которой строится объективно лучший просвечивающий электронный микроскоп, который выбирают ведущие научные группы по всему миру. Микроскоп использует все новейшие разработки FEI, включая сверх ярк..
Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп SPM-9700
Сканирующая зондовая микроскопия - метод исследования формы и локальных свойств поверхности твердого тела. SPM-9700 позволяет проводить измерения методами атомно-силовой (AFM), магнитно-силовой (LFM), сканирующей туннельной микроскопии (STM), ..
Сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения SPM-8000FM
Впервые в сканирующем зондовом микроскопе используется атомно-силовой метод с частотной модуляцией, а не с амплитудной, как у большинства аналогичных приборов. Использование данного метода позволяет существенно уменьшить шумы (до 1/20 шумов приборов..
Сканирующий электронный микроскоп Apreo
С Apreo вы можете получать высококонтрастные изображения в высоком разрешении даже при работе с магнетиками, стеклами или другими непроводящими структурами. В тоже время микроскоп показывает отличные результаты и при изучении традиционных образцов дл..
Сканирующий электронный микроскоп Verios
Превосходная производительность VeriosТМ объясняется уникальным дизайном электронной колонны «Elstar FESEM». Монохроматор и модуль замедления пучка электронов позволяют показывать невероятные результаты на низких ускоряющих напряжениях, а новая ..
Универсальный сканирующий электронный микроскоп с вакуумным режимом «естественной среды» Quattro
Thermo Scientific™ Quattro СЭМ сочетает в себе отличную производительность как для визуализации, так и для аналитических исследований в сочетании с уникальным режимом естественной среды (ESEM). Это отличное решение для изучения образцов в их естестве..
Электронно-зондовый микроанализатор EPMA-1720
Электронно-зондовые микроанализаторы – это устройства, предназначенные в первую очередь для высокоточного рентгеноспектрального анализа нано- и микрообъектов. В отличие от обычных растровых электронных микроскопов с аналитическими приставками, в элек..
Электронно-зондовый микроанализатор EPMA-8050G
Электронно-зондовый микроанализатор оборудован передовой электронной оптической системой с полевой эмиссией, обеспечивающей беспрецедентное пространственное разрешение СЭМ изображений даже при высоких токах зонда (до 1 мкА!!!). В сочетании с вы..
Электронный микроскоп V400ACE
V400ACE™ разработан специально для для модификации схем и анализа отказов. Ионная колонна Tomahawk обеспечивает высокопроизводительную и точную обработку образца, а также дает изображения в высоком разрешении. В электронике встречаются только две ..
Электронный микроскоп Vion Plasma FIB
Фокусированный ионный пучок с источником на основе зарядово-связанной палзмы Xe(+). Удаление материала до 20 раз быстрее по сравнению с традиционным Ga FIB. FEI Vion™ Plasma Focused Ion Beam System (PFIB) - фокусированный ионный пучок с источником..