Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
Высокоскоростной широкоугольный детектор OneSight
- Производитель: Shimadzu Corporation
- Модель:OneSight
Новейший широкоугольный детектор позволяет проводить исследования с высокой скоростью и чувствительностью
Детектор OneSight представляет собой линейный кремниевый мультиполосный детектор. Он увеличивает быстродействие в 100 раз по сравнению с обычным сцинтилляционным детектором. OneSight позволяет также проводить измерения в широком диапазоне углов без сканирования гониометром, тем самым значительно повышая производительность. Легко может быть смонтирован на уже установленные у клиентов дифрактометры XRD-6100 и XRD-7000.
Широкоугольный 1280-канальный матричный детектор
Кремниевая матрица в детекторе OneSight содержит 1280 каналов, что позволяет регистрировать дифракционную картину одновременно в широком диапазоне углов.
Высокоскоростной количественный анализ с тремя режимами измерений
Детектор OneSight имеет 3 режима измерений: режим высокого разрешения, стандартный и быстрый. Это позволяет проводить измерения в 10 (режим высокого разрешения), в 15 (стандартный режим) и в 25 раз (быстрый режим) быстрее по сравнению со сцинтилляционным детектором.
Функция OneShot позволяет регистрировать дифрактограмму одновременно в широком диапазоне углов
Детектор OneSight может регистрировать дифракционную картину одновременно в диапазоне углов более 10 градусов без сканирования гониометром. Эта функция полезна при проведении количественного анализа с использованием определённого дифракционного пика.