Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
Спектрофотометры SolidSpec-3700 / SolidSpec-3700 DUV
- Производитель: Shimadzu Corporation
- Модель:SolidSpec-3700
Специализированный спектрофотометр с вертикальным расположением светового пучка, двухлучевой оптикой и двойным монохроматором специально создан для исследования оптических и спектральных характеристик крупногабаритных образцов в широком спектральном диапазоне от вакуумного ультрафиолета до ближней ИК области.
Спектрофотометр снащен тремя детекторами: ФЭУ и полупроводниковыми детекторами на основе InGaAs и PbS, которые обеспечивают высокую чувствительность на границе видимого диапазона и в ближней ИК области. Низкий уровень шума делает данный спектрофотометр незаменимым при работе с малопрозрачными образцами. Эта особенность неоценима также и при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.
В модели SolidSpec -3700 DUV используется продувка оптического блока и отделения для образцов чистым азотом, с целью удаления кислорода, что позволяет расширить спектральный диапазон в область вакуумного ультрафиолета до 165 нм.
Большое отделение для образцов (900×700×350 мм) позволяет удобно разместить в горизонтальной плоскости образцы с максимальными размерами 700×560×40 мм. Измерение таких крупных образцов стало максимально удобным благодаря вертикальному расположению оптического пучка. Дополнительная автоматическая система прецизионного перемещения образца (X – Y позиционер) позволяет проводить измерения в предварительно заданных точках, возможно измерение по всей поверхности образца площадью 310×310 мм2.
Конструкция кюветного отделения позволяет устанавливать различные дополнительные приставки:
- блок детектирования DDU-DUV (для анализа твердых и жидких проб);
- приставка для измерения зеркального отражения ;
- блок для очистки азота;
- приставка абсолютного зеркального отражения с возможностью измерения при разных углах: 5⁰, 12⁰, 30⁰, 45⁰.
Удобное программное обеспечение UVProbe (имеется русифицированная версия) дает возможность работать в следующих режимах:
- спектральный – регистрация поглощения, пропускания или отражения, сканирование по длине волны с возможностью последующей обработки спектра (определение положения максимумов и минимумов, арифметические операции, расчет площади, сглаживание, обратные величины, логарифмирование, производная с 1 до 4 порядка);
- фотометрический (количественный) – измерение на одной или нескольких (до 3) выбранных длинах волн, построение градуировочной кривой методом К-фактора, одноточечным или многоточечным;
- кинетический – регистрация изменения измеряемой величины во времени;
- генератор отчетов - свободное или по шаблону размещение материала (спектры, таблицы, комментарии и др.).
Спектрофотометр SolidSpec-3700 внесен в ГОСРЕЕСТР РФ и имеет Государственный Метрологический Сертификат РФ
| Оптическая схема | Двухлучевая |
|---|---|
| Монохроматор | Двойной |
| Источник излучения | 50-Вт галогеновая лампа и дейтериевая лампа. Автоматическая регулировка положения встроенного источника света |
| Детекторы | ФЭУ, InGaAs, PbS |
| Спектральный диапазон | SolidSpec 3700: 240 - 2600 нм или 190 - 3300 нм (при использовании DDU) SolidSpec 3700 DUV: 175-2600 нм или 165 - 3300 нм (при использовании DDU (DUV) |
| Спектральная ширина щели | 8 ступенчатая: от 0.1 до 8 нм в УФ/видимой области 10 ступенчатая: от 0.2 до 32 нм в ближней ИК области |
| Точность установки длины волны |
±0.2 нм в УФ/видимой области ±0.8 нм в ближней ИК области |
| Воспроизводимость установки длин волн |
±0.08 нм в УФ/видимой области ±0.32 нм в ближней ИК области |
| Максимальная скорость сканирования |
4500 нм/мин (УФ-видимый диапазон) 9000 нм/мин (ближний ИК) для ФЭУ и InGaAs 4000 нм/мин (ближний ИК) для PbS |
| Уровень рассеянного излучения* |
Менее 0.00008% (при 220 нм) Менее 0.00005% (при 340 нм) Мнеее 0.0005% (при 1420 нм) Менее 0.005% (при 2365 нм) |
| Фотометрический диапазон | От -6 до +6 Abs |
| Фотометрическая точность |
±0.002 Abs (при 0.5 Abs) ±0.003 Abs (при 1 Abs) |
| Фотометрическая воспроизводимость |
±0.001 Abs (при 0-0.5 Abs) ±0.002 Abs (при 0.5-1.0 Abs) |
| Дрейф нулевой линии |
SolidSpec-3700: менее 0.0002 Аbs/час (500 нм, через 2 часа после включения прибора) SolidSpec-3700DUV: Менее 0.0003 Аbs/час (500 нм, через 2 часа после включения прибора) |
| Стабильность нулевой линии |
±0,003 Abs (от 240 до 350 нм), ±0,002 Abs (от 350 до 1600 нм) ±0,004 Abs (от 1600 до 2600 нм) |
| Уровень шума |
Менее 0.0002 Abs (500 нм, RMS, щель 8 нм) Мнеее 0.00005 Abs (1500 нм, RMS, щель 8 нм) DDU/DDU-DUV: Менее 0.00005 Abs (500 нм, RMS, щель 2 нм) Менее 0.00003 Abs (1500 нм, RMS, щель 2 нм) |
| Размеры отделения для образцов (Ш×Г×В) | 900×700×350 мм |
| Габариты (Ш×Г×В) | 1000×800×1200 мм |
| Вес |
170 кг |
(*измерения проводили с использованием приставки для непосредственного детектирования DDU/DDU-DUV)