Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
Лазерный анализатор размеров наночастиц IG-1000 Plus
- Производитель: Shimadzu Corporation
- Модель:IG-1000 Plus
Анализатор размеров наночастиц IG-1000 Plus -- это уникальный инструмент, который позволяет проводить измерения не только в нано, но и в суб-нано диапазоне. Революционный метод измерения, созданный компанией Шимадзу позволяет измерять размеры наночастиц в диапазоне от 0,5 до 200 нм с высокой точностью простым и эффективным способом. Этот метод результативен и при анализе размеров одиночных наночастиц.
-
Высокочувствительный анализ размеров частиц.
Для анализа используется метод индуцированной решетки (IG), который базируется на новом принципе измерения размеров наночастиц. Этот метод позволяет даже в области одиночных наночастиц получать хорошее соотношение сигнал/шум, благодаря чему возможны стабильные измерения с хорошей воспроизводимостью. -
Сопротивляемость загрязнению.
Благодаря использованию метода индуцированной решетки (IG), загрязнения исходного образца не оказывает существенного влияния на результаты измерения. Фильтрация проб для удаления крупных частиц не является обязательной. -
Высокая воспроизводимость.
Новый метод измерения (IG) гарантирует высокую воспроизводимость и получение стабильных данных и, следовательно, устраняет недостоверность и неточность при анализе частиц в нано области. Это является особенно важным при анализе частиц размером меньше 10 нм. -
Современное программное обеспечение WINGIG.
Программное обеспечение, совместимое с операционными системами Windows, предназначено для управления прибором, обработки и вывода полученных данных. -
Метод индуцированной решетки.
На специальным образом расположенные электроды, помещенные в среду с диспергированными частицами, подается переменное напряжение. Вследствие этого создается определенное расположение частиц в жидкости, так называемая индуцированная дифракционная решетка. Если прекратить подачу напряжения, то частицы диффундируют и дифракционная решетка распадается. Сенсоры регистрируют изменение интенсивности света при распаде дифракционной решетки, что позволяет получить данные о распределении частиц по размерам.
Применение:
- Анализ размеров нано частиц
|
Метод измерений |
IG-метод (метод индуцированной решетки) |
|
Диапазон измерений |
0.5-200 нм |
|
Время измерения |
30 секунд (от начала измерения до получения результата) |
|
Количество анализируемого жидкого образца |
250-300 мкл |
|
детектор |
Фотодиод |
|
Источник света |
Полупроводниковый лазер (785 нм, выходящий сигнал 3 мВт) |
|
Ячейка |
Емкостная ячейка |
|
Габариты (Ш×Г×В) |
600×400×200 мм |
|
Вес |
15 кг |