Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
Электронно-зондовый микроанализатор EPMA-1720
- Производитель: Shimadzu Corporation
- Модель:EPMA-1720
Электронно-зондовые микроанализаторы – это устройства, предназначенные в первую очередь для высокоточного рентгеноспектрального анализа нано- и микрообъектов. В отличие от обычных растровых электронных микроскопов с аналитическими приставками, в электронно-зондовых микроанализаторах накладываются жесткие требования к стабильности электронного зонда по положению и току, что и обеспечивает точность анализа (при работе волновых спектрометров спектр накапливается последовательно, и колебания тока могут привести к ошибкам при расчете концентрации элементов).
Микроанализатор EPMA-1720 - новое поколение приборов этого класса. Это закономерное развитие идей и решений, реализованных в предыдущих сериях электронно-зондовых микроанализаторов фирмы Шимадзу, которые она производит с 80-х годов прошлого столетия.
следующую информацию:
- изображение во вторичных электронах на растровом электронном микроскопе (РЭМ);
- распределение по составу в отраженных электронах;
- окрашенное оптическое изображение в видимом свете;
- качественный элементный состав;
- идентификацию элементов в следовых количествах;
- количественный элементный состав;
- картирование распределения элементов по площади и концентрации;
- химическое состояние элемента, тип механической связи.
Электронно-оптическая система (колонна микроскопа) позволяет получать изображения во вторичных и отраженных электронах, а также формирует стабильный по току и положению электронный зонд. Встроенный оптический микроскоп с увеличением около 540Х, коаксиальный и конфокальный с электронным зондом, позволяет одновременно просматривать РЭМ изображение и оптическое изображение, несущее информацию о цвете образца.
Блок спектрометров содержит нескольких волновых спектрометров (т.н. каналов) – от 2 до 5, каждый из которых имеет 2 кристалла-анализатора. В ВДС кристалл-анализатор, детектор спектрометра и источник излучения на образце находятся в определенной позиции строго на дуге окружности Роуланда. В специализированных микроанализаторах применяются спектрометры, установленные вертикально, следовательно, область, из которой они могут регистрировать характеристическое рентгеновское излучение, очень мала. Поэтому сканирование электронным зондом при работе с ВДС невозможно, для сканирования по выбранной области используют перемещение столика. Крайне маленький шаг перемещения столика (20 нм) позволяет получать карты распределения элементов с высоким пространственным разрешением.
Радиус окружности Роуланда в рентгеновском спектрометре является важным фактором, влияющим на аналитические параметры. При большом радиусе чувствительность относительно низкая при хорошем разрешении по длине волны. (Увеличение радиуса окружности Роуланда на 1 дюйм уменьшает чувствительность определения более, чем на 30%). При маленьком радиусе чувствительность высока, но разрешение по длинам волн ухудшается.
Это, однако, справедливо, только для кристаллов одного типа и размера, произведенных и отполированных одним и тем же производителем по одинаковой технологии. Чувствительность и разрешение по длинам волн существенно зависят от технологии производства кристаллов. Технология производства оптических элементов, разработанная фирмой Шимадзу, позволяет создавать высококачественные кристаллы с геометрией Иогансонас идеальной кристаллической поверхностью. Это позволяет снизить величину радиуса окружности Роуланда до 4 дюймов (101,6 мм), обеспечивая одновременно высокую чувствительность анализа и высокое разрешение по длинам волн.
В EPMA Шимадзу размещается до пяти 4-дюймовых спектрометров, которые перекрывают полный спектральный диапазон.
Кроме того, EPMA-1720 обеспечивает более высокий угол выхода рентгеновских лучей (52,5°вместо обычных 35°), что является важнейшим условием улучшения всех основных аналитических характеристик.
Более высокий угол выхода:
- обеспечивает лучшее пространственное разрешение;
- более высокую чувствительность (из-за меньшего поглощения рентгеновского излучения)
- обеспечивает высокоточный анализ шероховатых образцов (так как уменьшает поглощение при анализе дна углубления или постороннего вещества в углублении).
Программное обеспечение позволяет легко получить изображение образца, выбрать интересующую область, оптимизировать настройки анализа и обработать полученные данные. Управление, как оптической системой, так и системой количественного анализа осуществляется с помощью одной мыши. В программы анализа входят программы для качественного анализа, линейного (профильного) анализа, картирования, как отдельных элементов, так и химических соединений выбранного элемента, количественного анализа, анализа по калибровочной прямой и программа для картирования следовых количеств элементов на криволинейных поверхностях.
Последняя программа (опциональная) является новейшей разработкой, и позволяет, благодаря коррекции положения точки анализа на криволинейной поверхности по оси Z, получать карты распределения следовых количеств элементов на поверхности сферической формы.
- Прибор отличается максимальной стабильностью и воспроизводимостью и является эталонным прибором для микроанализа. Чувствительность при анализе некоторых элементов достигает десятков ppm.
- Многооконный интерфейс позволяет работать в многозадачном режиме и представлять результаты в самом удобном и подробном виде, что повышает наглядность результатов и эффект от их изучения.
- Не требует большого пространства для размещения – минимальные габариты помещения составляют 3,0 х 4,0 м.
| Диапазон анализируемых элементов | от 4(Ве) до 92(U) |
|---|---|
| Количество волновых спектрометров | от 2 до 5 |
| Максимальное число одновременно устанавливаемых кристаллов | 10 |
| Радиус окружности Роуланда | 4 дюйма (101.6 мм) |
| Диапазон перемещения столика образцов | 90 мм по X и Y, 7 мм по Z |
| Максимальные размеры и вес образца | 100 мм х 100 мм х 50 мм; 2 кг |
| Максимальная скорость движения столика | по X,Y - 15 мм/сек, по Z – 1 мм/сек |
| Минимальный шаг | по X,Y – 20 нм; Z – 100 нм |
| Энергия электронного зонда | 0,1 кэВ – 30 кэВ (шаг 0,1 кэВ; до 5 кэВ возможен шаг 10 эВ) |
| Ток зонда | от 1 пА до 1 мкА |
| Разрешение во вторичных электронах | 6 нм для вольфрамового катода и 5 нм для гексаборидцериевого катода |
| Разрешение оптической системы при визуальном наблюдении | 1 мкм |
| Увеличение | от 40 до 400 000 крат |