Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
Модуль HTS-XT предназначен для осуществления высокопроизводительного скрининга методом ИК-Фурье спектроскопии. Сбор данных, их контроль и анализ осуществляется посредством программного обеспечения OPUS/LAB. Являясь внешним устройством анализа, модуль HTS-XT подсоединяется к различным моделям ИК-Фурье спектрометров Bruker Optics и в зависимости от конфигурации позволяет проводить измерения в среднем, ближнем ИК, а также в видимом диапазоне.
Планшет для образцов соответствут стандантым форматам на 96 или 384 ячеек. Для осуществления анализа 1-20 µл образца помещают в ячейку и высушивают. Объем образца зависит от его формы, режима измерения и конфигурации планшета. Твердые образцы сначала высушивают и уплотняют перед помещением в планшет. Заполненный планшет при помощи моторизированного устройства подается в предварительно осушенный спектрометр. После чего измерение микропланшета осуществляется в автоматическом режиме как на пропускание, так и на отражение, путем перемещения позиции каждого образца в фокус ИК-луча.
Основным преимуществом ИК-спектроскопии является то, что информация о молекулярной структуре содержится в каждом ИК-спектре. Несмотря на то, что высокопроизводительные методы обычно используют специфические маркеры для анализа определенных параметров, ИК-анализ на микропланшете позволяет получать информацию о молекулярной структуре без их использования.
ИК-Фурье спектроскопия также позволяет одновременно определять несколько параметров за одно измерение!
Применения
- Идентификация микроорганизмов
- Определение загрязнений
- Характеризация клеток
- Анализ почв
- Идентификация и определение типа алмазов
HTS-XT использует ПО OPUS/LAB для автоматической регистрации спектров и анализа большого количества образцов. Для количественного анализа нескольких компонентов в сложных системах используют современные методы многопараметрического анализа PLS (Partial Least Squares). Для качественного анализа доступны такие алгоритмы анализа как корреляция спектров, PCA (Principal Component Analysis) и ANN (Artifical Neural Networks). Хранение параметров измерения и результатов анализа в logfile позволяет осуществлять перенос данных во внешние программы или системы LIMS (Laboratory Information Management Systems).