Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
Рентгеновский дифрактометрPANalytical X'Pert³ MRD (XL)
- Производитель: PANalytical
- Модель:PANalytical X'Pert³ MRD (XL)
Уникальный рентгеновский дифрактометр модульной конструкции для научных исследований и промышленности Pert3 MRD (XL) (Multi-Purpose Research Diffractometer).
В этой модели многоцелевого дифрактометра исследовательского класса используется горизонтальный гониометр высокого разрешения.
Модульная конструкция
Размещение оптических модулей спроектировано на уникальной разработке PANalytical - платформе PreFIX (Pre-aligned Fast Interchangeable X-ray modules) с жесткой стабилизацией позиции.
Не имеющая аналогов платформа PreFIX с использованием технологий прецизионной механики позволяет производить смену оптических модулей максимально быстро (за время не более 20-50 сек) и без дополнительной юстировки. Таким образом, в одном дифрактометре обеспечивается возможность без труда проводить измерения порошков, моно- и поликристаллов, полупроводников, пленок, поверхностей и т.д. последовательно, просто заменив соответствующую приставку без последующей утомительной юстировки.
Нет необходимости покупать новую систему для новой задачи - необходимо просто закупить соответствующие модули (приставки) и установить на платформу PreFIX. Вы получаете фактически "новый" прибор, не имеющий ограничений относительно полноты и/или чувствительности анализа!
Возможна установка температурной камеры также в виде модульной приставки для PreFIX.
Области применения:
- дифрактометрия высокого разрешения
- анализ текстуры и напряжений
- анализ кривых качания, оценка совершенства упорядоченных структур
- построение карт обратного пространства эпитаксиальных пленок и слоев
- рефлектометрия
- наноисследования, малоугловое рассеяние рентгеновских лучей SAXS (Small angle X-ray scattering)
- анализ тонких и очень тонких нанопленок
- фазовый анализ с высочайшей скоростью и точностью, метод Ритвельда
- дифракция в плоскости (in-plane дифракция)
- анализ монокристаллов и др.
Уникальные возможности:
- система для измерений дифракции в плоскостях решетки, перпендикулярных типовой плоскости
- extended-позиция - удлиненное плечо первичной оптики гониометра для получения максимального разрешения и интенсивности в параллельно-лучевой геометрии с рентгеновским параболическим зеркалом и любым из монохроматоров Бартеля
- вторичная оптика для анализа тройных осей (анализатор), кривых качания, карт обратного пространства и т.п. - система для анализа с высочайшей разрешающей способностью полупроводников, эпитаксиальных высокоупорядоченных пленок, в т.ч. очень тонких
Специальная модель X'Pert3 MRD (XL) позволяет исследовать объекты большой площади, такие как полупроводниковые пластины диаметром до 300 мм. Устройства автоматической подачи образцов позволяют использовать дифрактометр для поточного анализа - экспресс-контроля производственных процессов, аттестации и сертификации продукции.
Краткое описание дифрактометров X'Pert PRO MRD:
- вариант гониометра Θ-2Θ, горизонтальный, высокого разрешения
- возможность установки рентгеновского зеркала и монохроматора высокого разрешения на расширенном плече первичной оптики
- высокоточная система прямого оптического отслеживания позиции гониометра (DOPS)
- фабричная калибровка оптических модулей и держателей образцов обеспечивает их смену без дополнительной подстройки
- использование уникальных рентгеновских 2-фокусных трубок
- применение быстродействующих детекторов PIXcel и PIXcel3D, а также классические детекторы
Рентгеновские трубки PANalytical собственного производства запатентованной конструкции не имеют аналогов в мире:
- в одной трубке возможно использование различных фокусировок рентгеновского пучка - 2 выходных Ве-окна
- возможность выполнять на одном дифрактометре анализ используя линейный фокус рентгеновской трубки, а также в точечном фокусе
- время смены фокуса трубки, замена на трубку с другим анодом - не более 1-2 минут путем поворота трубки не нарушая юстировки, без отключения охлаждения
- большой выбор анодов - Cr, Mn, Fe, Co, Cu, Mo, Ag, по выбору заказчика, оптимальны при использовании в геометрии Θ-2Θ, Θ-Θ
- улучшенная изоляция из металлокерамики (патент), значительно продлевает жизненный цикл трубки
Революционная технология уникального детектора PIXcel:
- твердотельный детектор 2-го поколения, разработанный для традиционных и специальных задач рентгеновской дифрактометрии
- состоит из 65 000 чувствительных элементов (пикселей), размер каждого из которых составляет 55 x 55 мкм
- все чувствительные элементы имеют индивидуальные циклы счетной загрузки, что обеспечивает динамический диапазон счета более 100 000 000 имп/сек для каждой линии пикселей
- использование детектора PIXcel не требует установки аттенюатора, использование в комбинации с монохроматорами обеспечивает запись дифрактограмм с отношением пик/фон более 107
Программное обеспечение позволяет управлять всеми системами прибора и обладает максимальным набором функций для обработки данных, расчетов, построения графиков, карт и моделей. Набор пакетов программного обеспечения X'Pert Software обеспечивает выполнение всех возможных видов анализа и проведения исследований:
- X'Pert Data Collector - программный модуль для управления дифрактометром, задания параметров измерений, сбора данных
- X'Pert HighScore и HighScore Plus - пакет программ для идентификации фаз в многофазных смесях с использованием современных алгоритмов, содержит дополнительные программы кристаллографического и фазового анализа с использованием метода Ритвельда
- X'Pert Stress и Stress Plus - для анализа остаточных микро-макро напряжений в объемных образцах, поликристаллических покрытиях и напылениях
- X'Pert Texture - анализ, расчет, визуализация ориентации кристаллитов в поликристаллических материалах, включая специальные 3D режимы графических отображения полюсных фигур и ориентации функции распределения
- X'Pert Epitaxy и X'Pert SmoothFit - для анализа полупроводников, эпитаксиальных пленок, карт обратного пространства, кривых качания, с использованием симуляции и автоматической подгонки измеренных кривых;
- X'Pert Reflectivity - программа для анализа толщины кристаллических и аморфных пленок, оценка качества поверхности
- X'Pert Industry (включая X'Pert Data Collector) - пакет программ для промышленности, для проведения рутинных измерений и обработки данных
- X'Pert Quantify - количественный фазовый анализ, измерение, обработка и вывод результатов, с использованием известных аналитических моделей