Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
Настольный энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр X-Cite
- Производитель: Xenemetrix Ltd.
- Модель:X-Cite
XRF спектрометр Xenemetrix Х-Cite производит неразрушающий качественный и количественный анализ от Фтора(9) до Фермия (100), обеспечивая пределы обнаружения от долей ppm до высоких процентных содержаний.
Компактные спектрометры прекрасно помещаются на стандартном лабораторном столе и включают в себя полностью интегрированную компьютерную систему.
Соответствует стандартам MIL 810E (устойчивости оборудования ко всевозможным стрессам в полевых условиях).
Кремниевый дрейфовый детектор(SDD): обеспечивает возможность анализа с высокой скоростью счета импульсов, улучшенным разрешением – ниже 125 эВ, и быстрым откликом для минимизации времени анализа.
X-Cite включает в себя следующие эффективные компоненты:
- Полностью интегрированный компьютер
- Кремниевый дрейфовый детектор высокого разрешения
- Мощная рентгеновская трубка с изменяемым размером пятна, разработанная для адаптации к образцам разных размеров
- Шесть настраиваемых фильтров для быстрого и точного определения микроэлементов
Основные области применения:
- Полимеры: анализ сырья для производства пластмасс, PVC, добавки, следы
- Добыча и производство минерального сырья: цемент, известняк, песок, глина, бокситы, фосфориты, гипс
- Переработка нефти: Контроль содержания серы серы в топливе, мониторинг смазочных масел, присадок, продуктов, износа металлических деталей
- Металлургия: исследования и контроль качества различных технологических процессов в металлургической промышленности при производстве нержавеющей стали, чугуна, сортировке металлов
- Защита окружающей среды: сточные воды, соответствие директиве RoHS, загрязнение атмосферы, почва и грунт
- Толщина покрытий и тонкие плёнки: анализ многослойных покрытий, покрытий для стали, примесей
- Криминалистика: анализ улик, совпадение материалов, взрывчатые вещества
- Продукты питания, парфюмерия и лекарственные препараты: проверка добавок, сырья, качества упаковки и прочее
- Научные исследования: исследования в области материаловедения, химической промышленности и др.
|
Характеристики |
PD Версия |
SDD Версия |
|
Возможности анализа |
||
|
Диапазон определения |
Na(11) - Fm (100) |
F(9) - Fm(100) |
|
Определяемые концентрации |
ppm - 100% |
Доли ppm - 100% |
|
Генерация рентгеновского излучения |
||
|
Источник излучения |
35кВ, 9Вт |
40кВ, 18Вт |
|
Рентгеновская трубка |
Rh/Ag/Mo/W/Pd анод |
|
|
Способ возбуждения |
Прямое возбуждение с 6 программно-заменяемыми фильтрами |
|
|
Стабильность |
Точность 0.1% при температуре окружающей среды |
|
|
Детектирование рентгеновского излучения |
||
|
Детектор |
Pin-диод, электрически охлаждаемый |
SDD |
|
Разрешение (FWHM), при 5.9 кэВ |
155 эВ ± 10эВ |
125эВ ± 5эВ |
|
Окно детектора |
Be |
|
|
Основные особенности системы |
||
|
Автосэмплер |
8-позиционный автосэмплер |
|
|
Рабочая среда |
Воздух/ Вакуум/ Гелий |
|
|
Источник электропитания |
110-230В 50/60Гц |
|
|
Обработка сигнала |
Высокоскоростной многоканальный цифровой анализатор |
|
|
Габариты системы (L x W x H, cм) |
Без упаковки: 55 x 55 x 32, в упаковке: 80 x 80 x 65 |
|
|
Вес |
50кг (net), 90кг (gross) |
|
|
Размер камеры |
22x22 см, H=5см |
|
|
Компьютер |
Встроенный ПК |
|
|
Программное обеспечение |
||
|
Системное программное обеспечение |
Програмное обеспечение nEXt™ , под управлением ОС Microsoft Windows™ + базовый бесстандартный режим фундаментальных параметров |
|
|
Управление |
Автоматический контроль возбуждения, обнаружения и обработка сигнала |
|
|
Обработка спектров |
Автоматическое удаление пика утечки и фона. Автоматическая деконволюция пиков. Графической обработки статистических данных |
|
|
Алгоритмы количественного анализа |
Мультиэлементная регрессия с межэлементной коррекцией (6 моделей) Различные методы вычисления площади пика : gross, net, fit и digital filter |
|
|
Формирование отчета |
Настраиваемый пользователем вывод данных на принтер |
|
|
Дополнительные опции |
Автосэмплер на 16 позиций. Устройство для вращения образцов. Программное расширение для анализа методом фундаментальных параметров. Упрочненный корпус и защита от вибраций. |
|