Комплексное оснащение медицинских учреждений,
государственных и научных лабораторий

Металлографический инвертированный микроскоп МЕТАМ ЛВ

  • Производитель: СПЕКТР
  • Модель:МЕТАМ ЛВ
Узнать цену

Микроскоп применяется в металлографических лабораториях, научно-исследовательских институтах и предприятиях металлургической, микроэлектронной и машиностроительной про-мышленности. Микроскопы позволяют рассматривать изображение объекта на демонстрационном экране и производить его фотографирование.

Особенностью микроскопа МЕТАМ ЛВ является применение новых безрефлексных план-апохроматических объективов сверхширокого поля без хроматической окраски по контуру и широкоугольных окуляров, что позволяет добиться высокой контрастности изображений исследуемых объектов.

Микроскопы МЕТАМ ЛВ являются новым поколением инвертированных металлографических микроскопов, предназначенных для исследования и фотографирования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете в светлом поле при косом и прямом освещении, в темном поле, в поляризованном свете и по методу дифференциально-интерференционного контраста (ДИК).

За счет применения растровой осветительной системы повышена равномерность освещенности объекта.

Характеристика Значение
Увеличение, крат 50-1500
Объективы-планахроматы, мм* 5x/0.17; 10x/0.28; 20x/0.50, 50x/0.85; 100x/0.95; 100x/1.32 МИ (входит в комплект МЕТАМ ЛВ); 100/1.32 МИ/0.2 (по заказу)
Длина тубуса Бесконечность
Линейное поле в плоскости изображения, мм 20
Окуляры широкоугольные, мм** 10/18 и 15/12
Призмы ДИК к объективам (5,10) и (20,50)
Размеры предметного столика, мм 190x200
Демонстрационный экран (линза Френеля), мм 90x120
Фотографирование на пленку и на пластинку, размер кадра, мм 24x36 и 90x120
Габаритные размеры, мм 470x410x390
Масса, кг 25

* - увеличение/числовая апертура
** - увеличение/линейное поле

Комплектация: комплект сеток для определения размеров, площадей, отдельных структурных составляющих, протяженности линий границ зерен и раздела фаз, а также классификации их по площадям, диаметрам, размерам и т. д.

Запрос информации