Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
Лазерный анализатор элементного состава LEA‑S500
- Производитель: SOL Instruments
- Модель:LEA‑S500
Лазерный анализатор элементного состава LEA‑S500 производства СОЛ инструментс позволяет определять химические элементы от H до U с диапазоном измерения от 0.01 ppm до 100% за считанные минуты. Система LEA-S500 — это уникальный инструмент, который объединяет инновационные технологии в области лазерной, спектральной, измерительной и цифровой техники, а также программного обеспечения.
LEA-S500 является идеальным прибором для исследований, разработки новых материалов и технологий их обработки, а также контроля качества на всех стадиях производственного процесса. Уникальные возможности анализатора позволяют измерять концентрации химических элементов в стеклах, металлах и сплавах, определять химический состав включений, измерять распределение концентраций элементов по глубине, в пленках и покрытиях, а также выполнять анализ химических загрязнений в строительных материалах.
Преимущества:
-
Измерение массовой доли (концентрации) химических элементов или их соединений (оксидов) в анализируемой пробе с минимальной пробоподготовкой;
-
Экспрессный многоэлементный анализ химического состава за одно измерение;
-
Высокая чувствительность и прецизионность измерений в широком диапазоне концентраций;
-
Не требуется изменение агрегатного состояния проб; анализ проб в заданных точках (областях) поверхности с помощью систем позиционирования и видеонаблюдения;
-
Послойный анализ покрытий, пленок, налетов, коррозий; анализ состава включений, пороков, дефектов;
-
Анализ распределения химических элементов в пробе с шагом от 30 мкм; построение карт распределения элементов по поверхности и глубине;
-
Не требуются особо чистые реактивы для пробоподготовки; не требуются дорогостоящие расходные материалы; не требуется инертный газ для решения большинства задач;
-
Осуществляется очистка загрязненных поверхностей проб предварительными импульсами лазера;
-
Универсальность: прибор не требует переналадки или модернизации для решения всех перечисленных задач;
-
Анализ токопроводящих и токонепроводящих материалов; анализ проволоки любого диаметра, шариков, цилиндрических деталей без дополнительной обработки с помощью адаптеров (включены в комплект поставки);
-
Удобство и абсолютная безопасность работы и технического обслуживания;
-
Полная защита персонала от воздействия вредных факторов.
Применение:
-
Стекольная промышленность
-
Цементная промышленность
-
Производство керамики
-
Геологическая промышленность
-
Полупроводниковая промышленность
-
Черная и цветная металлургия
-
Строительные материалы
-
Криминалистика
-
Научные исследования в институтах и учебных лабораториях
-
Материаловедение
-
Машиностроение
-
Добыча и переработка сырья
-
Защита окружающей среды
-
Археология
-
Сельское хозяйство (производство кормов, чая и т.п.)
-
Медицина
-
Фармакология
-
Сертификация
Требования, предъявляемые к используемым стандартным образцам (СО):
-
Химический состав комплекта СО должен соответствовать составу анализируемых проб.
-
Концентрации элементов в комплекте СО должны охватывать весь диапазон возможных значений содержания элемента в анализируемых пробах.
-
СО должен обеспечивать воспроизводимость и повторяемость регистрируемого аналитического сигнала.
-
Комплект СО и анализируемые пробы должны иметь одинаковый структурный (гранулометрический) состав и иметь близкие физико-химические свойства.
-
СО должны сохранять стабильность метрологических характеристик в течение всего срока годности.
-
Оптимальное количество стандартных образцов для градуировки анализатора с равномерной разбивкой по массовым долям (концентрациям) – 3-7 образцов.
Перечень нормативной документации (ГОСТ), допускающий использование анализатора элементного состава LEA-S500 в качестве средства измерения
-
ГОСТ 18895-97. Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа.
-
ГОСТ Р 54153-2010. Сталь. Метод атомно-эмиссионного спектрального анализа.
-
ГОСТ 27611-88. Чугун. Метод фотоэлектрического спектрального анализа.
-
ГОСТ 9716.2-79. Сплавы медно-цинковые. Методы спектрального анализа.
-
ГОСТ 20068.2-79. Бронзы безоловянные. Методы спектрального анализа.
-
ГОСТ 7727-81. Сплавы алюминиевые. Методы спектрального анализа.
-
ГОСТ 23902-79. Сплавы титановые. Методы спектрального анализа.
-
ГОСТ 23328-95. Сплавы цинковые. Методы спектрального анализа.
-
ГОСТ 30082-93. Сплавы цинк-алюминиевые. Спектральный метод анализа.
-
ГОСТ 17261-77. Цинк. Спектральный метод анализа.
-
ГОСТ 31382-2009. Медь. Методы анализа.
-
ГОСТ 3221 — 85. Алюминий первичный. Методы спектрального анализа.
-
ГОСТ 851.8-93. Магний первичный. Спектральный метод определения натрия и калия.
-
ГОСТ 851.10-93. Магний первичный. Спектральный метод определения кремния, железа, никеля, меди, алюминия, марганца, титана.
-
ГОСТ 15483.10-2004. Олово. Методы атомно-эмиссионного спектрального анализа.
-
ГОСТ 8857-77. Свинец. Метод спектрального анализа.
-
ГОСТ 6012-2011. Никель. Методы химико-атомно-эмиссионного спектрального анализа.
-
ГОСТ 8776-2010. Кобальт. Методы химико-атомно-эмиссионного спектрального анализа.
-
ГОСТ 9853.23–96. Титан губчатый. Спектральный метод определения кремния, железа, никеля.
-
ГОСТ 14339.5-91. Вольфрам. Методы спектрального анализа.
-
ГОСТ 23201.0-78 — ГОСТ 23201.2-78. Глинозем. Методы спектрального анализа.
-
ГОСТ 25702.18-83. Концентраты редкометаллические. Спектральные методы определения окисей кальция, кремния, магния, ниобия, тантала, титана, циркония, хрома, алюминия бария, железа.
-
ГОСТ 27973.1-88. Золото. Методы атомно-эмиссионного анализа.
-
ГОСТ 28353.1-89. Серебро. Метод атомно-эмиссионного анализа.
-
ГОСТ 28353.1-89. Серебро. Метод атомно-эмиссионного анализа.
-
ГОСТ 12551.2–82. Сплавы платино-медные. Методы спектрального анализа.
-
ГОСТ Р 52371-2005. Баббиты оловянные и свинцовые. Метод атомно-эмиссионной спектрометрии.
-
ГОСТ Р 54335-2011. Палладий. Метод атомно-эмиссионного анализа с искровым возбуждением спектра.
-
ГОСТ 12223.0-76. Иридий. Метод спектрального анализа.
-
ГОСТ 12227.0-76. Родий. Метод спектрального анализа.
-
ГОСТ 9519.1-77. Баббиты кальциевые. Метод спектрального анализа по литым металлическим стандартным образцам.
-
ГОСТ 1429.14-2004. Припои оловянно-свинцовые. Методы атомно-эмиссионного спектрального анализа.
-
ГОСТ 5905-2004. Хром металлический. Технические требования и условия поставки.
-
ГОСТ 13348-74. Сплавы свинцово-сурьмянистые. Метод спектрального анализа.
-
МВИ.МН 3985-2011. Методика выполнения измерений химического состава стёкол и других материалов.
-
МВИ.МН 5351-2015. Методика выполнения измерений концентраций химических элементов в волосах человека методом лазерной атомно-эмиссионной спектрометрии.
