Автоматизированный анализатор минерального состава QEMSCAN 650F
- Производитель: FEI
- Модель:QEMSCAN 650F
Qemscan 650F это высокопроизводительная автоматизированная система для анализа минералов, предназначенная главным образом для тех областей, где анализ частиц призван решить практические проблемы и усовершенствовать процесс научных и инженерно-технических разработок. Система состоит из сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) с большой загрузочной камерой для образцов и высокоскоростными энергодисперсионными рентгеноспектрометрами (EDS). Для анализа изображений минералов и микроанализа используется новейшее автоматизированное программное обеспечение.
Основные преимущества:
- Полностью автоматизированный анализ минералов и пород
- Установка создана на базе FEI Quanta650F SEM
- Сверхбыстрый анализ частиц и высокая производительность
- до 14 образцов в одном держателе для высокой производительности
- Усовершенствованный анализ изображений и программа вывода данных
- Исследование породо- и рудообразующих минералов, так же как и искусственных материалов
- Успешное применение в различных областях торговопромышленной деятельности
Принцип действия
Используя интегрированное оборудование и программное обеспечение,QEMSCAN определяет большинство породо- и рудообразующих минералов на основе изображения в обратно рассеянных и вторичных электронах в сочетании с электронно-индуцированным вторичным рентгеновским излучением. Возможно исследовать множество различных образцов, включая полированные тонкие сечения пропитанные смолой, полированные толстые сечения, полировальные куски образцов, буровой керн и даже частицы на СЭМ плёнке или на фильтровальной бумаге. Можно определить широкий спектр петрографических характеристик, включая: модальное соотношение минералов, гранулометрический состав, фазовые включения, тип руды, литотип, пористость, наличие свободных частиц, площадь поверхности и плотность зёрен - и это далеко не всё. Полевой эмиссионный катод системы QEMSCAN 650F имеет ряд преимуществ над вольфрамовым для решения определенных прикладных задач,а именно - определение и исследование микронных частиц (благодаря высокому разрешению) и расширенную детализацию субмикронных частиц пород и структурных особенностей руды, таких как пористость и разломы(во вторичных электронах).
Применение
Промышленные секторы
- добыча – основных и драгоценных металлов, промышленных минералов
- нефтепродукты – нефть и газ
- выработка энергии – уголь и продукты сгорания угля
- строительство – цемент и спрессованные породы
- экология – пыль, загрязнённые почвы
- агропромышленный комплекс - почвы
- судебная геология - зондирование места совершения преступления
- Планетарная геология – луна, марс, метеориты и астероиды
Горно- и металлодобывающая промышленность
- Характеризация руды
- – определение зон выработки
- – характеризация геометаллургических свойств
- Проектирование предприятий и определение оптимальных характеристик производства
- – анализ условий переработки сырья в малых и больших масштабах
- – определение оптимальных условий помола
- Извлечение металлов
- – анализ подачи и отхода концентрата
- – достижение эффективного смешивания руды
- – возможность избегать металлургически бедных залежей руды
- уголь и продукты сгорания угля
- – минералогия угольной золы (уголь)
- – минералогия летучей пыли (цемент)
Исследование и производство нефти и газа
- стратиграфия минералов
- литостратиграфия
- оценка пористости
- плотность зёрен породы
- диагенетический текстурный анализ
Общий анализ свойств минералов
- последовательный анализ частиц
- автоматизированная классификация минералов и фаз
- распространенность минералов
- элементный состав
- структура минералов, частиц и руд
- минеральная ассоциация
- наличие несвязанных и слабосвязанных частиц минералов
- размер, форма и плотность частиц и зёрен минералов
Возможности QEMSCAN:
- сканирующий электронный микроскоп Quanta 650F
- два кремниевых дрифтовых рентгенофлуоресцентных анализатора на основе метода энергетической дисперсии (SDD)
- програмное обеспечение iDiscover™ (программа анализа минералов)
- автоматизированный сбор , анализ и выдача данных
- специализированный держатель образцов, на 14 шт , 30 мм.
- обучающие блоки
программное обеспечение для хранения данных
iDiscover™
- управление образцами и базами данных программное обеспечение для проведения измерений iMeasure
- управление СЭM и EDS
- инструменты для обработки и классификации изображений
- управление базой данных минералов
- iExplorer – программа для представления данных
- просмотр базы данных в табличной и графической форме
- сравнение, комбинирование и фильтрацию набора данных
- группирование минералов
- поиск минералов (модальный анализ) и распределение элементов (количественный анализ)
- определение гранулометрического состава
- минеральные ассоциации, инклюзии и свободные частицы
- теоретические кривые качества сырья
- плотности частиц и параметры распределения формы
- встроенный вспомогательный редактор SIP
- составление и редактирование протоколов классификации фаз
Возможные режимы измерений
- общий минералогический анализ
- анализ отдельных частиц
- поиск определенных минералов
- поиск следовых примесей
- получение изображений
- картографирование элементов и количественный анализ
Спецификации сканирующего
электронного микроскопа:
Электронная оптика
Сверхяркий, сверхстабильный источник полевой эмиссии Шоттки
Средняя стабильность пучка: < 0.4 % / 10 часов
быстрое восстановление устойчивости пучка после откачки – в среднем <15 минут
Детекторы
BSED, двухсегментный полупроводниковый
SED, Everhart Thornley & низковакуумный SED (LFD)
инфракрасная камера
Вакуум
режим работы при высоком вакууме
режим работы при низком вакууме (от 10 до 130 Па)
режим работы в естественной среде (от 1 до 4000 Па),
ESEM
1 x 240 л/с турбомолекулярный насос, 2 форвакуумных
насоса
Разрешение
1.2 нм @ 30 кВ (SE)
2.5 нм @ 30 кВ (BSE)
ускоряющее напряжение 200 В-30 кВ
зондовый ток до 100 μA, плавно регулируемый
Камера
ширина 379 мм
рабочее расстояние 10 мм
35 ˚ угол наблюдения РФС
снабжена многочисленными детекторами EBSD, EDS и WDS
Предметный столик
X-Y = 150 мм
Z = 65 мм
T = - 5 ˚ до + 70 ˚
R = 360˚, бесступенчатый
Управление системой
32-битный графический интерфейс Windows® XP SP 2, клавиатура, оптическая мышь
вывод изображений на два 19-дюймовых ЖК дисплея, SVGA 1280 x 1024
EDS:
Тип детектора - кремниевые дрейфовые детекторы (SDD) с возможностью анализа лёгких элементов
30 мм² активной зоны
энергетическое разрешение: 175 эВ (Mn) @ 8*105 счетов в секунду (Au)
Ультрабыстрое преобразование импульсов: 4*105 счетов в секунду