Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
- Одновременное получение изображения абсорбции, дифференциальной фазы и темного поля.
- Рентгеновский интерферометр с тремя дифракционными решетками, рассчитанный на 30 кэВ.
- Микрофокусный рентгеновский источник мощностью 100 Вт, и энергией луча 20-60 кВ.
- Автоматическая установка одного из пяти фильтров для выбора луча нужной энергии.
- Охлаждаемый полупроводниковый 11 Мп рентгеновский детектор.
Регистрация направления луча
Проходя через объект исследования, рентгеновские лучи изменяются. Они теряют интенсивность благодаря поглощению объектом, а также меняют фазу из-за разности скорости лучей в объекте. Фронт волны за объектом оказывается модулирован этими двумя явлениями. Обычные рентгеновские камеры нечувствительны к направлению падающих лучей и могут регистрировать только поглощение лучей объектом. Однако, отклоненные объектом лучи не поглощаются, в то время как несут полезную информацию о тонкой структуре объекта.
Чтобы получить данные о фазе луча, нужно сначала перевести их в интенсивность, которая может быть зафиксирована камерой. Этот перевод производится специальным устройством – интерферометром Талбота-Лау, который состоит из нескольких точно отрегулированных решеток субмикронного шага. Фазовая решетка G1 создает интерференционную картину. Решетка G2 убирает из картины не отклоненные образцом лучи. Решетка G0, стоящая сразу за источником рентгеновского излучения, создает несколько связанных лучей, необходимых для создания интерференции.
Таким образом, с помощью отклоненных объектом лучей мы получаем возможность получать дополнительную информацию о нем.