3D сканирующий лазерный люминесцентный спектрометр Rubin
- Производитель: SOL Instruments
- Модель:Rubin
Лазерный конфокальный люминесцентный микроскоп Rubin
Простые и быстрые измерения статического давления в образце, находящемся между сапфировыми или алмазными наковальнями, расположенными в камере высокого давления с использованием метода лазерной оптической люминесцентной спектроскопии.
Достоинства
- Жесткая стабильная конструкция системы
- Автоматизированное управление работой прибора
- Цифровое изображение с увеличением 100х
- Высокая чувствительность
- Размер измеряемого образца 10 мкм
- Х-Y-Z позиционирование с точностью 1 мкм
- Автоматическая калибровка перед выполнением измерений
- Высокая точность измерения давлений благодаря использованию Эшелле спектрографа
| Увеличение инвертированного микроскопа: | 100x |
| Диапазон измеряемых давлений в камере: | 1...900 кбар |
| Разрешающая способность спектрографа: | 0.02 нм |
| Эквивалентная погрешность измерения давления: | не более 0.6 кбар |
| Минимальный размер регистрируемых кристаллов рубина находящихся на наковальне: | |
| - для алмазных наковален: | 10 мкм |
| - для сапфировых наковален: | 30 мкм |
| Величина перемещения пучка лазерного излучения в плоскости предметов (наковален) по осям X, Y, Z: | 6 мм |
| Шаг перемещения по осям X, Y, Z: | 1 мкм |
| Длина волны лазерного возбуждения люминесценции: | 532 ± 10 нм |
| Мощность лазерного излучения: | 3 мВт |
| Время выхода лазера на рабочий режим: | 3...5 мин |
| Потребляемая мощность: | не более 500 Вт |
| Электропитание: | 220 В, 50/60 Гц |
| Масса: | 60 кг |
| Характеристики камер высокого давления: | |
| - диаметры | 40...100 мм |
| - расстояние от основания камеры до исследуемого образца: | 55...70 мм |
| - угол раствора камер с сапфировыми наковальнями: | 18˚ |
| - угол раствора камер с алмазными наковальнями: | 60˚ |
Программное обеспечение "Рубин"
- управление лазерным конфокальным микроскопом
- автоматическая калибровка спектрографа
- метрологическая оценка результатов анализа
- графическое представление аналитического сигнала
- математическая обработка результатов измерения
- сохранение результатов и настроек прибора