materials science

3D сканирующий лазерный люминесцентный спектрометр Rubin

Лазерный конфокальный люминесцентный микроскоп Rubin

Простые и быстрые измерения статического давления в образце, находящемся между сапфировыми или алмазными наковальнями, расположенными в камере высокого давления с использованием метода лазерной оптической люминесцентной спектроскопии.

Достоинства

  • Жесткая стабильная конструкция системы
  • Автоматизированное управление работой прибора
  • Цифровое изображение с увеличением 100х
  • Высокая чувствительность
  • Размер измеряемого образца 10 мкм
  • Х-Y-Z позиционирование с точностью 1 мкм
  • Автоматическая калибровка перед выполнением измерений
  • Высокая точность измерения давлений благодаря использованию Эшелле спектрографа
Увеличение инвертированного микроскопа: 100x
Диапазон измеряемых давлений в камере: 1...900 кбар
Разрешающая способность спектрографа: 0.02 нм
Эквивалентная погрешность измерения давления: не более 0.6 кбар
Минимальный размер регистрируемых кристаллов рубина находящихся на наковальне:  
- для алмазных наковален: 10 мкм
- для сапфировых наковален: 30 мкм
Величина перемещения пучка лазерного излучения в плоскости предметов (наковален) по осям X, Y, Z: 6 мм
Шаг перемещения по осям X, Y, Z: 1 мкм
Длина волны лазерного возбуждения люминесценции: 532 ± 10 нм
Мощность лазерного излучения: 3 мВт
Время выхода лазера на рабочий режим: 3...5 мин
Потребляемая мощность: не более 500 Вт 
Электропитание: 220 В, 50/60 Гц
Масса: 60 кг 
Характеристики камер высокого давления:  
- диаметры 40...100 мм
- расстояние от основания камеры до исследуемого образца: 55...70 мм 
- угол раствора камер с сапфировыми наковальнями:  18˚ 
- угол раствора камер с алмазными наковальнями: 60˚

Программное обеспечение "Рубин"

  • управление лазерным конфокальным микроскопом
  • автоматическая калибровка спектрографа
  • метрологическая оценка результатов анализа
  • графическое представление аналитического сигнала
  • математическая обработка результатов измерения
  • сохранение результатов и настроек прибора

Запрос информации