Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
Empyrean – уникальный рентгеновский дифрактометр с вертикально расположенным гониометром высокого разрешения модульной конструкции для научных исследований и для аналитического контроля в промышленности .
Дифрактометр Empyrean – новейшая инновационная разработка PANalytical с cистемой полностью предварительно откалиброванных оптических модулей, способный решать все возможные на сегодняшний день задачи рентгеновской дифрактометрии.
Это результат 50-летнего успешного опыта PANalytical - продолжение уникальной серии дифрактометров, сочетающий в себе все достижения давно зарекомендовавших себя порошковых дифрактометров X'Pert PRO MPD и исследовательских дифрактометров X'Pert PRO MRD.
Впервые в дифракционных исследованиях применена технология "томографического" сканирования образца, позволяющая "просвечивать" его в любой плоскости и отображать трехмерную проекцию внутренней структуры образца.
Защитный корпус дифрактометра отвечает всем мировым требованиям радиационной безопасности (в соответствии с требованиями Vollschutz according to Röntgenverordnung 1987)
Модульная конструкция, платформа PreFIX
Как и в прежних моделях дифрактометров PANalytical размещение всех оптических модулей спроектировано на уникальной разработке PANalytical - платформе PreFIX (Pre-aligned Fast Interchangeable X-ray modules), где все модули предварительно откалиброваны на фабрике и не требуют юстировки.
Причем юстировка модулей не требуется и при их использовании на других системах Empyrean.
Платформа PreFIX позволяет производить смену всех без исключения оптических модулей (включая первичную и вторичную оптику) максимально быстро и без юстировки. Таким образом, в одном дифрактометре обеспечивается возможность без труда проводить измерения порошков, кристаллов, текстуры, напряжений, пленок, поверхности и т.д. последовательно, просто заменив соответствующую приставку.
Нет необходимости приобретать новую систему для новой задачи - необходимо просто закупить соответствующие модули. Вы получаете фактически "новый" дифрактометр, не имеющий ограничений относительно полноты и/или чувствительности анализа.
Области применения
Дифрактометр способен выполнять все задачи рентгеновской дифрактометрии:
-
Классический фазовый анализ с высочайшей скоростью и точностью детектирования
-
Определение, уточнение параметров элементарной ячейки
- Определение фаз по слоям
- Микродифракция
-
Анализ текстуры, построение полюсных фигур
- Определение напряжений и размера кристаллитов
- Анализ тонких и очень тонких пленок, многослойных покрытий
- Анализ эпитаксиальных пленок, высокоупорядоченных структур, анализ кривых качания, построение карт обратного пространства, оценка совершенства структур
- Анализ монористаллов
- Рефлектометрия, определение толщины и плотности слоев
- Анализ наноразмерных порошков и материалов
- Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей SAXS (Small angle X-ray scattering), анализ размерного разпределения наночастиц
- Дифракция в плоскости (in-plane дифракция)
- Проведение исследований в экстремальных условиях обработки
- Определение фазовых переходов при изменении параметров кристаллической наноструктуры
- Кластерный анализ
- Томографическое сканирование, построение и отображение 3D-проекций внутренней структуры веществ (дефектоскопия)
Платформы для перемещения и вращения образцов
- Многоцелевая консоль (1/4 "люльки") с возможностью программируемого перемещения образца по 5 осям (Chi-96 º , Phi-720 º , Z-12мм, X-54мм, Y-54мм), макс. диаметр образца 80 мм, высота 16 мм, макс.вес 0.5 кг
- Компактная консоль (1/4 "люльки") с возможностью программируемого перемещения образца по 3 осям (Chi-96 º , Phi-720 º , Z -64мм ), макс. диаметр образца 140 мм, высота 64 мм , возможность проведения измерений "на просвет" (трансмиссии )
- Автоматический спинер для вращения образца (в геометрии Брег-Брентано) и программируемого перемещения по оси Z с возможностью проведения измерений "на просвет"
- Столик-держатель для негабаритных и тяжелых образцов, пластин, деталей с возможностью механического перемещения по оси Z
- Спинер для вращения образца для проведения компьютерной томографии
Краткое описание дифрактометра Empyrean
Дифрактометр имеет как классическую порошковую конфигурацию, так и специализированные модификации, используя огромное количество оптических модулей: параболическое и фокусирующее зеркала, монохроматоры Бартеля, гибридный монохроматор, монокапиллярная и поликапиллярная оптика, тройные оси, оптика для анализа кривых качания, фиксированные и программируемые щели, параллельно-пластинчатый коллиматор и т.д.).
-
Вариант гониометр а: Θ-Θ, Θ-2Θ (система Альфа 1 с Johanson-монохроматором), только ве ртикальный
- Стандартный радиус гониометра 240 мм (возможно уменьшение радиуса), угловой диапазон 360 ° без модулей, -111°<2Θ<168° в зависимости от модулей
-
Возможна установка различных температурных камер Anton Paar (от -193 ° С до 2200 ° С), создание вакуума/давления
-
Новейшая высокоточная патентованная система прямого оптического отслеживания позиции гониометра (DOPS-2) - это еще более точная система позиционирования оптических модулей и трубки, продолжение знаменитой серии гониометров PANalytical DOPS, воспроизводимость установки угла 0.0001°, 2Θ линейность ±0.004°, шаг сканирования от 0,0001
-
Фабричная калибровка всех оптических модулей и держателей образцов обеспечивает их смену без дополнительной подстройки
-
Использование уникальных рентгеновских трубок собственного производства с двумя выходными окнами
-
Применение быстродействующего детектора PIXcel3D
Рентгеновские трубки PANalytical собственного производства запатентованной конструкции не имеют аналогов в мире. В одной трубке возможно использование различных фокусировок рентгеновского пучка.
-
2 выходных Ве-окна, улучшенная изоляция из керамики (патент), значительно продлевает жизненный цикл трубки
-
Большой выбор анодов - Cu, Cr, Mn, Fe, Co, Cu, Mo, Ag, по выбору заказчика, оптимальны при использовании в геометрии Θ-2Θ, Θ-Θ
-
Используя одну и ту же трубку, возможно проведение исследований используя линейный фокус и точечный фокус рентгеновской трубки
-
Время смены фокуса трубки, замена на трубку с другим анодом - менее 2 минут путем поворота трубки не нарушая юстировки, без отключения охлаждения
Детекторы
Используются как классические Xe-пропорциональные и сцинтилляционные детекторы, так и новейшие разработки PANalytical полупроводниковые детекторы X'Celerator, PIXcel и PIXcel3D.
Революционная технология уникального детектора PIXcel3D, разработан совместно с Европейской организацией ядерных исследований ЦЕРН (CERN):
-
твердотельный детектор 3-го поколения, разработанный для традиционных и специальных задач рентгеновской дифрактометрии;
-
состоит из 65 000 пикселей (256х256 пикселей), размер каждого пикселя 55 x 55 мкм;
-
каждый пиксель имеет индивидуальный цикл счетной загрузки, что обеспечивает огромный динамический диапазон счета более 100 000 000 имп/сек для каждой линии пикселей;
- уровень шума менее 0.1 имп./сек для всего детектора;
-
применение детектора PIXcel3Dвозможно в комбинации со всеми оптическими модулями, для обеспечения высочайшего уровня интенсивности и получения отношения пик/фон более 107
Широчайшие возможности PIXcel3Dдля полного круга применений в 0D, 1D, 2D и 3D режимах:
-
-
точечный 0D режим позволяет работать как точечный детектор с высочайшими динамическими свойствами для применения при измерениях кривых качания, рефлектометрии и малоугловых исследованиях, регистрация и суммирование интенсивности в каждом пикселе;
-
линейный 1D режим представляет собой линейный детектор с суммированием интенсивности в ряд пикселей с высочайшими динамическими свойствами и минимальным размером, превосходящий по свойствам все остальные твердотельные детекторы;
-
двумерный 2D режим представляет собой детектор, покрывающий целую площадь детектирования излучения независимо в каждом пикселе, высочайшими динамическими свойствами и разрешением каждого пикселя благодаря функции рассеяния, примененной к каждому пикселю;
-
трехмерный 3D режим представляет собой систему компьютерной томографии с минимальным фоном и потерями импульсов, позволяющий сканировать образец с высоким динамическим шагом, получать томографическое изображение (3D-проекцию) с четкими границами, считывание пикселей производится независимо, а полученные двумерные изображения комбинируются.
-
Программное обеспечение позволяет управлять всеми системами прибора и обладает максимальным набором функций для обработки данных, расчетов, построени я графиков, карт и моделей. Набор пакетов программного обеспечения X'Pert Software обеспечивает выполнение всех возможных видов анализа и проведения исследований.
- X'Pert Data Collector - программный модуль для управления дифрактометром, задания параметров измерений, сбора данных;
- X'Pert Industry (включая X'Pert Data Collector) - пакет программ для промышленности, для проведения рутинных измерений и обработки данных;
- X'Pert Quantify - количественный фазовый анализ, измерение, обработка и вывод результатов, с использованием известных аналитических моделей;
- X'Pert HighScore и HighScore Plus - полный пакет программ для идентификации и количественного определения фаз в многофазных смесях с использованием современных алгоритмов, содержит дополнительные программы кристаллографического и фазового анализа с использованием метода Ритвельда. Этот пакет является лидером для анализа фазового состава, структурного анализа, метода Ритвельда, определения и уточнения параметров элементарных ячеек. HighScore Plus содержит лучший на рынке алгоритм поиска по картотеке баз данных, что существенно облегчает и ускоряет анализ фазового состава. Поиск возможен на основании как отдельных пиков, так и на основании полнопрофильных данных с использованием различных поисковых алгоритмов. HighScore Plus позволяет работать не только с базой данных ICDD PDF -2, но и с другими базами данных, например, постоянно развивающейся системой со свободной лицензией COD (Crystallorgaphy Open Database);
- X'Pert Stress и Stress Plus - для анализа остаточных микро-макро напряжений в объемных образцах, поликристаллических покрытиях и напылениях;
- X'Pert Texture - анализ, расчет, визуализация ориентации кристаллитов в поликристаллических материалах, включая специальные 3D режимы графических отображения полюсных фигур и ориентации функции распределения;
- X'Pert Epitaxy и X'Pert SmoothFit - для анализа полупроводников, эпитаксиальных пленок, кривых качания с использованием симуляции и автоматической подгонки измеренных кривых;
- X'Pert Reflectivity - программа для анализа толщины кристаллических и аморфных пленок, оценка качества поверхности;
- Easy SAXS - запатентованная программа анализа размерного распределения наноразмерных частиц и пор в объеме образца;
- X'Pert Computed Tomography - программный модуль для обработки данных, полученных при сканировании обраца в трехмерном поле.