Лазерный анализатор размеров наночастиц IG-1000 Plus
- Производитель: Shimadzu Corporation
- Модель:IG-1000 Plus
Анализатор размеров наночастиц IG-1000 Plus -- это уникальный инструмент, который позволяет проводить измерения не только в нано, но и в суб-нано диапазоне. Революционный метод измерения, созданный компанией Шимадзу позволяет измерять размеры наночастиц в диапазоне от 0,5 до 200 нм с высокой точностью простым и эффективным способом. Этот метод результативен и при анализе размеров одиночных наночастиц.
-
Высокочувствительный анализ размеров частиц.
Для анализа используется метод индуцированной решетки (IG), который базируется на новом принципе измерения размеров наночастиц. Этот метод позволяет даже в области одиночных наночастиц получать хорошее соотношение сигнал/шум, благодаря чему возможны стабильные измерения с хорошей воспроизводимостью. -
Сопротивляемость загрязнению.
Благодаря использованию метода индуцированной решетки (IG), загрязнения исходного образца не оказывает существенного влияния на результаты измерения. Фильтрация проб для удаления крупных частиц не является обязательной. -
Высокая воспроизводимость.
Новый метод измерения (IG) гарантирует высокую воспроизводимость и получение стабильных данных и, следовательно, устраняет недостоверность и неточность при анализе частиц в нано области. Это является особенно важным при анализе частиц размером меньше 10 нм. -
Современное программное обеспечение WINGIG.
Программное обеспечение, совместимое с операционными системами Windows, предназначено для управления прибором, обработки и вывода полученных данных. -
Метод индуцированной решетки.
На специальным образом расположенные электроды, помещенные в среду с диспергированными частицами, подается переменное напряжение. Вследствие этого создается определенное расположение частиц в жидкости, так называемая индуцированная дифракционная решетка. Если прекратить подачу напряжения, то частицы диффундируют и дифракционная решетка распадается. Сенсоры регистрируют изменение интенсивности света при распаде дифракционной решетки, что позволяет получить данные о распределении частиц по размерам.
Применение:
- Анализ размеров нано частиц
|
Метод измерений |
IG-метод (метод индуцированной решетки) |
|
Диапазон измерений |
0.5-200 нм |
|
Время измерения |
30 секунд (от начала измерения до получения результата) |
|
Количество анализируемого жидкого образца |
250-300 мкл |
|
детектор |
Фотодиод |
|
Источник света |
Полупроводниковый лазер (785 нм, выходящий сигнал 3 мВт) |
|
Ячейка |
Емкостная ячейка |
|
Габариты (Ш×Г×В) |
600×400×200 мм |
|
Вес |
15 кг |