Рентгенофлуоресцентный спектрометр Epsilon 3X

  • Производитель: PANalytical
  • Модель:3X

Серия Epsilon 3X настольных мини-приборов разработки компании PANalyical.

  • Обеспечивают точный и воспроизводимый анализ химического состава любых материалов.
  • Диапазон определяемых элементов от F до U, диапазон концентраций элементов на уровне от долей ppm до 100%. Возможность идентифицировать углерод.
  • Работают в полевых и лабораторных условиях
  • Соответствуют требованиям международных стандартов (ASTM, ISO и DIN).

Модели:

  • Epsilon 3X - макс. ток 1 мА, макс. напряжение 30 кВ, макс. высота пробы до 49 мм, от Na до U, карусель на 10 проб
  • Epsilon 3XLE - макс. ток 3 мА, макс. напряжение 50 кВ, макс. высота пробы до 100 мм, от C до Am, карусель на 10 проб

А также Epsilon 1 - макс. ток 1 мА, макс. напряжение 30 кВ, макс. высота пробы до 49 мм, от Na до U, только 1 проба, компактный размер, встроенный компьютер/монитор

Рентгеновские энергодисперсионные спектрометры Epsilon 1, Epsilon 3X и Epsilon 3XLE. Серия настольных мини-приборов разработки компании PANalyical. 

Диапазон определяемых элементов от F до U, диапазон концентраций элементов на уровне от долей ppm до 100%.  Возможность идентифицировать углерод. 

Предназначены для точного и воспроизводимого анализа химического состава как в полевых так и в лабораторных условиях.  

Высокие аналитические возможности, низкая стоимость и минимальная степень расходования сменных материалов, делают приборы серии Epsilon 3 наиболее универсальными из всех известных аналогов. Для проведения анализа на приборах не требуется специальной подготовки. Требуется только электроподключение 220 В.

В спектрометрах используются новые рентгеновские трубки собственного производства PANalytical мощностью до 15 Ватт с тонким бериллиевым окном 50 мкм, благодаря чему возможен очень точный и глубокий анализ любых материалов.

Для увеличения точности и воспроизводимости результатов, впервые в энергодисперсионных спектрометрах применена технология контроля внутреннего состояния прибора: термостабилизация, давление, защита от пыли.

Области применения

  • металлургия
  • горнодобывающая промышленность
  • цемент
  • ферросплавы
  • нефтехимия
  • полимеры
  • фармацевтика
  • керамика, стекло
  • криминалистика, таможня
  • пищевая промышленность
  • электроника, в соответствие со стандартами RoHS и WEEE
  • при научных исследованиях
  • и многие другие

Программное обеспечение максимально понятно и "дружественно" для пользователя, 100% ПО переведено на русский язык. Применены все виды коррекций при построении калибровок и безэталонном анализе, для получения правильного и воспроизводимого результата анализа.

Для всех моделей Epsilon 1 и 3 оптимизирован программный модуль количественного безэталонного анализа Omnian для анализа неизвестных проб без использования стандартов. Уникальный модуль Onmian  имеет широчайшие возможности для исследований образцов с неизвестным химическим составом. Возможность быстрого сканирования образца за 1 минуту. Достигается погрешность измерений менее 10 % отн. Высочайшая стабильность работы и чувствительность по всем элементам обеспечивают низкие погрешности анализа и отменную воспроизводимость результатов.

Блок детектирования - твердотельный Si-детектор SDD-Ultra (Пельтье-охлаждение) с ультранизким уровнем шума, благодаря чему не требуется поляризация первичного пучка. Скорость счета более 200 000 имп/сек. Разрешение детектора 135 эВ. 

Для повышения чувствительности по легким элементам применяется программируемая продувка измерительной камеры гелием, с расходом менее 0.5 л/мин, а также контроллируется внутреннее состояние прибора (термостабилизация, давление, защита от пыли).

В моделях  Epsilon 1 и 3 осуществлена методика идентификации материалов FingerPrint в соответствие с самостоятельно пополняемой базой данных материалов. Эта программная методика позволяет быстро и легко отличать, например, фальсифицированную продукцию от настоящей, определять наличие запрещенных веществ, соответствие (в %) какому-либо материалу и т.п.

Новый модуль послойного анализа Stratos для быстрого, простого неразрушающего анализа покрытий, поверхностных слоев или многослойных структур.

Запрос информации