Дифрактометр
- Высокопрецизионный вертикальный θ - θ гониометр, разработанный для работы с образцами большого размера до 400мм(Ш) х 550мм(Г) х 400мм (В) максимум.
- Большой R-θ столик для образцов диаметром до 350мм и высотой 190мм (опция).
- Автоматическое картирование напряжения.
- Система поликапиллярной оптики, обеспечивающая параллельный рентгеновский пучок и принципиальное улучшение соотношения пик/фон (опция).
| Позиция | Наименование | XRD-7000, 2 кВ | XRD-7000, 3 кВ |
|---|---|---|---|
| Рентгеновская трубка | Материал анода | Cu, Mo, Co,Fe, Cr, W на выбор, нормальный фокус | Cu, Mo, Co,Fe, Cr на выбор, широкий или линейный фокус |
| Размеры фокуса | 1,0*10 мм |
2,0* 12 мм |
|
| Максимальная мощность | 2 кВ | 3 кВ | |
| Рентгеновский генератор | Максимальная мощность |
3 кВ |
|
| Максимальные параметры работы | 60 кВ -80 мА | ||
| Защита трубки |
Защита от превышения мощности, |
||
| Механизм защиты | Механизм блокировки двери Аварийный стоп |
||
Гониометр |
Тип | Вертикальный Θ-Θ | |
| Радиус Гониометра | 275 мм стандартный ( может меняться от 200 до 275 мм | ||
| Размеры образца максимальные | 400мм *550 мм* 400 мм | ||
| Диапазон углов сканирования |
от -12 до 164°(2Θ), от -6 до +82° (Θs); -6°до +132°(Θd) |
||
| Автосамплер | 5 позиций ( опция) | ||
| Минимальный шаг сканирования | 0, 0002° ( 2Θ) ; 0,0001° (Θ) | ||
| Режимы работы | Непрерывное сканирование, пошаговое сканирование, калибровка, позиционирование, осцилляция по оси Θ | ||
| Скорость сканирования | 0,1°-50°/ мин (Θs, Θd); 0,1°-100°/ мин ( 2Θ) | ||
Детектор (на выбор) |
Сцинцилляционный счетчик |
Кристалл NaI Время измерения шага 0,1~1000 сек Линейная скорость счета 100000 имп/сек |
|
| Высокоскоростной широкоугольный детектор |
Количество каналов 1280 Область регистрации 64х8мм |
||
| Дополнительные принадлежности ( опции) |
Система поликапиллярной оптики |
||
| Дополнительное программное обеспечение (опция) |
Расчет остаточного аустенита Расчет прецизионных параметров решетки Определение типа кристаллической решетки Определение кристаллитов и искаженний решетки Определение степени кристалличности База данных порошковых дифрактограмм ICDD Анализ Rietveld |
||