Returning Customer
I am a returning customer
Register Account
If you already have an account with us, please login at the login form.
Ваша учетная запись создана!
Поздравляем! Ваш Личный Кабинет был успешно создан.
Теперь Вы можете воспользоваться дополнительными возможностями: просмотр истории заказов, печать счета, изменение своей контактной информации и адресов доставки и многое другое.
Если у Вас есть какие-либо вопросы, напишите нам.
Выход
Вы вышли из Личного Кабинета.
Ваша корзина покупок была сохранена. Она будет восстановлена при следующем входе в Ваш Личный Кабинет.
Универсальный сканирующий электронный микроскоп с вакуумным режимом «естественной среды» Quattro
- Производитель: FEI
- Модель:Quattro
Thermo Scientific™ Quattro СЭМ сочетает в себе отличную производительность как для визуализации, так и для аналитических исследований в сочетании с уникальным режимом естественной среды (ESEM). Это отличное решение для изучения образцов в их естественном состоянии и среде.
SEM Quattro является отличным решением для тех, кто исследует в работе образцы различной природы и происхождения и хочет свести к минимуму время на их подготовку. Quattro отличается универсальностью и дает возможность быстро получать изображения и анализировать даже непроводящие и/или гидратированные образцы.
Нанохарактеризация образцов:
- Металлы и сплавы, трещины, сварные швы, полированные профили, магнитные и сверхпроводящие материалы
- Керамика, композиты, пластмассы
- Пленочное покрытие
- Геологические срезы, минералы
- Мягкие материалы: полимеры, фармацевтические препараты, фильтры, гели, ткани, материалы растительного происхождения
- Частицы, пористые материалы, волокна
Характеризация in situ:
- Кристаллизация / фазовое преобразование
- Окисление, катализ
- Выращивание материалов
- Гидратация/дегидратация/смачивание/угол соприкосновения анализа
- Растяжение/сжатие (при нагреве и охлаждении)
В базовую комплектацию Quattro входит:
- Высокопроизводительный SEM с FEG колонной
- Компьютер с 24’ LCD монитором (Windows 7)
- CCD камера
- Мультифункциональный держатель на 18 ( ⌀12) слотов
- Предметный столик 110 × 110 мм, моторизированный по 5 осям
- режим ESEM с вспомогательной газовой системой
Детекторы
- Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли (SED) для топографического контраста материалов в режиме высокого вакуума
- Large Field GSED (газовый детектор вторичных электронов для топографического контраста в режиме низкого вакуума
- LVD детектор вторичных электронов для работы в режиме низкого вакуума
Вакуумная система
- Турбомолекулярный насос: 1 × 250 лит./с
- Форвакуумный насос: 1 шт
- Ионно-геттерный насос: 2 шт
Программное обеспечение
- xT SEM – простой и удобный пользовательский интерфейс
- Smart ScanTM – функция интеллектуального сканирования
- DCFI – интегрированная система компенсации дрейфа
- Отображение результатов на экране монитора сразу с 4 детекторов (Single-frame or 4-view image display)
В зависимости от предполагаемой области применения, микроскоп может быть дополнительно оснащен:
- оптической камерой Nav-Cam для удобной навигации по образцу
- уникальным выдвижным многосегментным детектором обратно-рассеянных электронов DBS
- устанавливаемым на линзу газовым аналитическим детектором обратнорассеянных электронов DBS-GADдля режимов низкого вакуума и ESEM
- уникальным выдвижным многосегментным детектором прошедших электронов STEM3+
- Пельтье столиком WetSTEM™ интегрированным с STEM для изучения тонких и влажных образцов
- детектором катодолюминесценции RGB-CLD
- внитриколонным ICD детектором для использования режима замедления пучка
- специальными держателями образцов (возможен заказ держателей под нужды пользователя)
- системой подачи газа для нанесения пленок/сварки GIS (углерод, платина, вольфрам)
- наноманипуляторами и зондами
- криостоликом Пельтье от -20° C до +60° C
- функцией замедления пучка Beam deceleration в диапазоне от -4000 В до +50 В
- плазменной очисткой образца/камеры Plasma Cleaner
- модулем криоочистки образца CryoCleaner
- системой для быстрой загрузки Quick Loader
- различными анализаторами: EDS, EBSD, CL, WDS, Raman
- системой рисования электронным лучом Patterning
- амперметром для измерения тока на образце
- акустическим кожухом для вакуумной системы
- полностью безмасляного форвакуумного насоса
- дополнительным компьютером/монитором
- джойстиком
- ручной консолью управления
- системой навигации и ПО Correlative Navigation, MAPS Tilting and Stitching
- ПО MAPS для автоматического получения массивных изображений и их обработки
- ПО AutoScript4 для написания скриптов и автоматизации работы
- TopoMaps для характеризации изображений и 3D реконструкции поверхности
- ПО дополнительного анализа изображений и 3D реконструкций Avizo/Amira/PerGeos
- ПО для удаленного доступа и диагностики системы
- ПО для in situ экспериментов и контроля температурных столиков 1000° C - 1400° C,
Пельтье столика -20° C - +60° C
Камера для образцов
- Размер камеры: 340 мм
- Перемещение столика: 110*110 (x,y)
- Вращение: n*360°
- Наклон: -15°/+90°
- Максимальный размер образца: 122 мм ⌀
- Порты: 12
Рабочее ускоряющее напряжение 200В - 30кВ
Разрешение
- 0,8 нм на 30 кВ (STEM) - HiVac
- 1 нм на 30 кВ (SE) - HiVac
- 2,5 нм на 3 кВ (BSE) - HiVac
- 3 нм на 1 кВ (SE) - HiVac
- 1,3 нм на 30 кВ (SE) -LoVac
- 2,5 нм на 30 кВ (BSE) - LoVac
- 3 нм на 3 кВ (SE) - LoVac
- 1,3 нм на 30 кВ (SE) - ESEM
Уровень вакуума в камере
- (высокий вакуум) < 6 × 10-4 Па
- (низкий вакуум) 10 - 200 Па
- (ESEM) < 10 - 4000 Па